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[参考译文] BQ25155:当移除 VIN 时、出现从寄存器0x6f 读取 DEVICEID 的问题

Guru**** 2131060 points
Other Parts Discussed in Thread: BQ25155
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1338638/bq25155-issue-reading-deviceid-from-register-0x6f-when-vin-is-removed

器件型号:BQ25155

您好!

我们目前遇到的问题是 BQ25155无法正确响应对 I2C 寄存器0x6f 的请求。 通常、器件以0x35进行响应。 但是、当短暂应用 VIN 以使器件退出运输模式、然后快速移除时、我们注意到器件在寄存器0x6f 处的值为0x19时进行响应。 0x19响应也通过外部示波器监听解码进行确认。

此问题似乎与 BQ25155非常类似:I2C 读取操作问题

此问题 是确定性的、可 通过以下步骤重复出现:

  1. 将 BQ25155置于运输模式
  2. 短时间向 VIN 施加5V 电压、使器件退出运输模式
  3. 等待短时间(20秒)
  4. 向 VIO 施加1.8V
  5. 对 SCL 和 SCA 上的 VIO 应用上拉
  6. 等待100ms
  7. 对/LP 上的 VIO 应用上拉
  8. 等待2ms
  9. 请求寄存器0x6F
  10. 读取0x19

当在上述步骤2中稳定应用 VIN 且从未移除时、则在步骤10中从寄存器0x6f 读取0x35。

我们已在多个重复器件上复制了此问题。 我们还没有将这个问题简化到必要的最低限度电路、但我相信我们最终会解决这个问题。

我想联系一下大家、看看我们是否对可以下载的此勘误表或已发布的器件勘误表有任何想法。

谢谢!

詹姆斯

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    问题已解决。  我们的 JIG 添加了足够额外电容来导致一个位不被注册。  可以通过减小 SDA 的上拉电阻或从 JIG 中移除器件来解决该问题。

    很抱歉耽误你的时间。