[参考译文] TPSF12C3：有关有源 EMI 滤波器 IC 的偏置电源和浪涌保护的问题

我还担心雷电浪涌电流经过 AEF IC 和 TVS。 我们知道、浪涌电流会非常大(20~30Apk)、并会导致 TVS 和 IC 的硬故障。

不确定是否有人提供了有关浪涌保护的任何建议？

大家好、Martin、我在技术文章中做了回复-请参阅此处： https://e2e.ti.com/blogs_/b/powerhouse/posts/how-a-stand-alone-active-emi-filter-ic-shrinks-common-mode-filter-size 

如果您愿意、我们可以在此处或通过电子邮件继续讨论。

为了完整起见、我在此处也复制了回复：

浪涌测试原理图未显示对钳制输入浪涌瞬态至关重要的 MOV。 安装 MOV 后、SENSE 引脚具有内部钳位(足以容纳680pF 感应电容)、所示的外部 TVS 可保护 INJ 引脚。

在替代原理图中、需要感测电容器来连接 L 和 N 电源线、以检测 CM 电压干扰(实际上是相对于机箱 GND 的两个电压之和)、并且抑制工频电压和 DM 干扰(感测到的电压差)。 请注意、此 AEF 电路使用电压检测、电流注入(VSCI)拓扑-有关更多详细信息、请参阅白皮书 SNVAFJ9。

此致、

时间

尊敬的 Tim：

感谢您的解答。

请帮助确认我对 AEF 的以下陈述。 由于 AEF IC 的 INJ 引脚连接到 Y 电容并链接到机箱、因此这种 AEF 仅影响共模(CM) EMI。 对于 DM EMI、该 IC 没有任何帮助。 我不确定我的理解是否正确？

此外、根据我的电路分析、由于 X-cap 电容远大于 Y-cap 或中国证监会、因此 X-cap 由于阻抗低、可能会在更高的频率下短路。 因此、X-CAP 通常在 CM 等效电路中短路。 如果 X-CAP 针对 CM 噪声短路、则连接 X-CAP CX2的 Csense 1和2的两个端子也会短接在一起。 CM 电流(ICM)将由 AEF IC 内的感测电阻通过 Csense 1和2进行感测。 如果我们将两个检测引脚(检测1A 和检测2A)短接在一起、我们也可以检测相同的 ICM 电流幅度。 这就是我建议只使用一个 CSENSE 的原因、然后我们可以将 AEF IC 移到 L/N 侧而不是放置在机箱 GND 上。

我们有一些仿真电路、对吧？ 我们是否可以简化为将所有 SENSE1、2短接在一起、并且只使用一个连接至乙醚线路或中性线的 CSENSE？ 通过这种方法、我们可以知道是否可以得到相同的结果。 如果结果相同、我们还可以进一步将 AEF IC 移到我之前建议的 L/N 侧。

此致、

马丁

尊敬的 Martin：

Tim 现在是 OOO。

首先、您的共模电流环路不是完全正确。

大部分 CM 消除电流是通过 CINJ、然后通过以机箱为基准的 IGND GND。

感测电容不用于传导任何明显的 CM 噪声电流(不过、可能存在一些可忽略不计的感测电流)

您需要在 L 和 N 上使用感应电容器来感应 CM 电压。

检测总 L 和 N 电压、然后将其相加消除 DM 电压。  

因此、您无法仅通过一个连接进行检测、您需要对它们求和以消除 DM 噪声。

希望这对您有所帮助。

-奥兰多

您好、奥兰多！

感谢您的及时响应。

我知道主要的 CM 电流是通过 CINJ 到达机箱。 在之前的讨论中、我只想说明感应路径的 CM 电流。

我仍然不同意 AEF IC 在 DM EMI 消除方面的作用、因为 DM 电流路径永远不会通过 CINJ 和底盘。

为了演示所有检测引脚都可以短接在一起并且仅使用一个检测电容器、我根据 TI 的仿真模型进行了一些仿真。

仿真结果显示新连接和原点具有相同的结果。 我很难再进一步、因为我没有 AEF IC 的详细模型。 我将继续按照我的建议将 AEF IC 移到 L/N 侧、以便无需在 AEF 相关元件与转换器的初级侧元件之间保持较大间隙。

e2e.ti.com/.../Simulation-for-TPSF12C2-with-shorted-SENSE-pins.pdf

此致、

马丁

尊敬的 Martin：

DM 电流可能足够大、以便 X-cap 上仍然存在明显的纹波电压。  仅检测一条线路可能导致 AEF IC 对差分噪声做出响应、就好像它是共模噪声一样。 这将引起共模噪声注入、而不是共模噪声消除。  

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