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https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1361282/lm5045-lm5045-lost-duty-cycle-when-lighting-test
您好！
在我们的设计中, LM5045被用作全桥 拓扑的控制芯片。 在雷电测试中、我们发现 LM5045将损失占空比。 如果 将一个47pf 电容器与 RT 电阻器并联、该问题将得到解决。 我们想知道这种解决方案存在任何风险。 非常感谢。
BR//Yonggang
与 RT 并联添加一个47pF 电容器应该没有问题。 我建议尽可能减小电容器的尺寸。 观察在添加并联电容器的情况下/不添加并联电容器时 PWM 输出频率的影响、然后观察添加大电容器值的影响。 我的问题是 RC 时间常数变得过大、内部时钟边沿将延迟或失真。
此致、
史蒂夫
