[参考译文] BQ79606A-Q1：BQ79606Q1在低温条件下报告 SM130故障。

您好！

很抱歉响应延迟。 我正在尽快回答您的问题。

谢谢！

Zachary

 Zachary、您好：

在这个问题上、您是否取得了进展？

此致

 Zachary、您好：

我们 降低整个系统的温度。  

此外、CBFET 的 Rdson 不会对 SM130产生影响、bescasue SM130不会控制 CBFET。

在最后一个图片中、您可以看到、电池电压的测量值 随着温度降低而增加、启用时的测量值 随着温度降低而开始振荡、增量电压 随着温度降低而降低。

这是否会涉及测量精度问题。   数据表中描述的测量精度随着温度的下降而下降。

谢谢。

Zizhen

尊敬的 Zizhen：

您是否能够仅冷却 IC 并查看结果是否相同？ 此外、我不完全了解您的所有数据。 是否使用外部 DMM 监控电池电芯电压、然后将其与 IC 的测量结果进行比较？ 温度和电压下的预期精度为：–4.46至3.77mV、您会说这不是观察到的情况？

很抱歉、我会尽力尽快回复。

此致！

Zachary

 Zachary、您好：

目前、只有在低温下冷却 IC 并让它对我们来说太困难了。

关于数据、如图所示：

温度(信号 MEAS_CB_TEMP_0_ST3和 MEAS_CB_TEMP_1_ST3)从25℃ 降低至-39℃、但测量的电芯电压(CellVolt：_0_和 CellVolt：_1_)从337mV 增加至3380mV。 并且 当使能电流阱和电流源时、测量值(CellVolt_OC：_0_和 CellVolt_OC：_1_) 开始增加并随着温度降低而振荡、则 Cell1的差值电压(CellVolt_OC：：_0_和 CellVolt：_0_之间的差异) 也不稳定。

此致

Zizhen。

 Zachary、您好：

在上面的答复中忘记了一点。

电池电压由电压稳压器提供、不会发生变化和振荡。

尊敬的 Zizhen：

我认为这里的问题是、当您启用灌电流和拉电流时、这会导致 ADC 读数存在电压差异。 由于器件的冷却会改变电流源和 ADC 测量值、在低温下情况会变得更糟。  在 启用电流源/电流阱期间、基本上无法进行准确的电池电压测量。 这两项操作需要单独完成。  

谢谢！

Zachary

 Zachary、您好：

感谢您的反馈。 所以低温会使硅片测量精度更差、对吧？

我们启用电流源/电流阱、以便根据安全手册实施 SM130诊断。

您好、Zizhen：

温度会对 ADC 精度产生很大影响。 此处的重要因素是确保在没有启用灌电流和拉电流的情况下读取 ADC。 这将确保读数准确。 正如您在手册中所看到的、在禁用受电方和供电方后会等待一段时间、这样不会影响 ADC 读数。 在此过程之后、ADC 结果应准确。

此致！

Zachary

 Zachary、您好：

在 SM130过程中可以看到、结果 B 是使能拉电流和灌电流后的电芯电压测量值。 问题是结果 B 不准确。

此致

Zizhen。

尊敬的 Zizhen：

我会与我的同事讨论这个问题、看看他们是否有任何意见、并会在周末后回复你。

谢谢！

Zachary