[参考译文] LM5122：关于 LM5122MHX/NOPB 的问题

嗨, 尼克拉斯：

1.主电源电路原理图如附的升压电源电路图所示。 具体参数是59.4uF 的总输入电容、61.1uF 的总升压输出电容和2.8uH 的电感；

2.符合芯片启动条件的 VCC、UVLO、SS 和 LO 驱动波形测试结果如随附的图2 (正常温度25℃、输入 VIN+28V、斜率1V/ms)和图3 (低温-40℃、输入 VIN+28V、斜率1V/ms)所示。
--根据测试结果,在低温下, VCC、UVLO、SS 符合启动条件, LO 没有驱动信号。

图2

图3

之前测试了 VCC 波形、10V 的电源正常、1.4V 的 UVLO 也满足启动条件。 还怀疑 UVLO 裕度不足、导致未启动。 后来、我们调整了外设分压电阻、并将 UVLO 增加到了1.8V。 芯片在低温下仍然没有行驶。

此外、目前有多个芯片具有这种异常情况。 请协助分析问题、并判断是否满足对异常芯片进行进一步 FA 分析的条件。 谢谢！

尊敬的 Jimmy：

感谢更新和波形。

这证实启动本身不应与问题有关。
正如您说有多个芯片与这个问题相关、在总共进行了多少次测试中、您能向我提供几个显示这个问题的器件吗？
您是否还看到某些单元可以在-40°C 时启动、而发生故障的单元无法开始切换？
此外、您能否提供有关如何执行低温测试的更多详细信息？ 您是否使用冷却室或冷喷剂？

谢谢、此致、
Niklas

嗨,尼克拉斯：

1.客户目前正在计算特定故障率。 目前只有研发端测试过6个芯片中有2个出现了这个现象；
2、正常芯片在-40℃ 的低温下可以正常工作,而故障芯片在-40℃ 的低温下不能工作。 故障现象可以稳定地重现；
3、低温试验是冷却室(箱)试验。 冷却箱温度设置为-40℃、在冷却和绝缘时间为2小时后进行测试。
既然故障可以稳定重现、请问是否满足了故障芯片分析的条件？ 谢谢！

尊敬的 Jimmy：

感谢您的快速反馈。
6个芯片中有2个相当高、因此这可能仍然是系统问题、而不是器件问题。

由于您可以一直重现问题、芯片应对质量问题请求有效。
有关所有信息以及如何设置 TT 的信息、请访问： https://www.ti.com/support-quality/quality-reliability.html

如果向我们发送故障器件、我们将尝试在 LM5122 EVM 板上重现故障。 如果我们可以重现此处的问题、则故障分析将执行后续步骤来查找根本原因。 唯一的问题是、我们无法重现故障、并且 IC 在我们 EVM 板的-40C 下能够正常工作。 然后 IC 可作为 TNI 发回(未确定故障)

因为这可能会导致两侧都损失大量时间、所以我会在发送到单元之前检查设计的任何优化是否可以解决问题。

我可以帮助您审阅原理图。 为此、我需要峰值负载条件下的值以及此处标记的元件值：

如果您愿意在您这边执行其他基准测试、我会问您是否可以在故障情况下测量 FB 和 COMP 信号。
这些寄存器用于定义启动完成后的 PWM 信号。

谢谢、此致、
Niklas