[FAQ] [参考译文] [常见问题解答] AM625/AM623/AM625SIP/AM625-Q1/AM620-Q1/AM62A7/AM62A3/AM62P/AM62P-Q1/AM6442/AM2432定制电路板硬件设计–JTAG

尊敬的电路板设计人员：  

有关 JTAG 连接相关问题、请参阅以下输入。

有关 JTAG、TRST、边界扫描、连接器的参考的常见问题解答

[常见问题解答] AM625：在客户电路板中实施的 JTAG 原理图
e2e.ti.com/.../faq-am625-jtag-schematics-to-implement-in-customer-board
e2e.ti.com/.../tda4vm-which-debug-signals-are-required-in-mass-production

AM625：JTAG TRST 信号下拉。
e2e.ti.com/.../am625-jtag-trst-signal-pull-down
AM623：AM6232ATCGGAALW JTAG 边界扫描
e2e.ti.com/.../5011656
AM623：AM623、10引脚 JTAG 适配器和 TRSTN
e2e.ti.com/.../am623-am623-10-pin-jtag-adaptor-and-trstn 

AM625：nTRST 引脚被拉至低电平

(+) AM625：nTRST 引脚被拉至低电平-处理器论坛-处理器- TI E2E 支持论坛

JTAG -上拉电阻器要求
TMS、TCK、TDI 和 TDO 是否需要上拉电阻器？
最小建议值为 TRSTn 上的下拉电阻器、TCK、TMS 和 TDI 上的上拉电阻器。 TDO 上的拉电阻是可选的。

有关 JTAG 信号的更多信息
JTAG 信号的内部 PU/JTAG PD 信号处于开启状态(即使在复位期间)、即使在复位后也可以保持内部 PU/JTAG 开启状态、但是如果系统不使用特性、那么 PD 信号是否需要连接到外部 PU/JTAG PD？

客户可能认为内部 PU/CPU PD 足以用于信号处理、但客户希望确认为仔细检查。
客户还将 TRST 引脚连接到外部 PD。 目的是确保 TAP 控制器被停止。 处理此问题是否有任何问题？

在复位期间和复位后、默认会打开内部拉电阻。 只要软件不关闭它们、它们就会保持开启状态。
只要 PCB 布线连接到 JTAG 引脚、就建议使用外部拉电阻。 内部牵引力较弱、它们并非真正的线性电阻器。 随着电压接近电阻器拉向的电压轨、它们将变弱。 因此、当外部噪声源耦合到 PCB 信号布线中时、内部拉电阻可能无法将信号保持在有效逻辑状态。
外部拉电阻应与内部拉电阻连接到同一电源轨。 例如、EMU[1：0]、TCK、TDI、TDO、 TMS 引脚拉至 VDDSHV_MCU、TRSTn 引脚拉至 VSS。
客户应考虑在 AM62Px 引脚附近的 TRSTn 信号上插入一个低通滤波器、方法是在 TRSTn 信号上插入一个100个串联电阻器并在串联电阻的处理器侧插入一个0.1uF 的并联电容器。 我已经看到外部噪声事件耦合到 TRSTn 信号中、并在操作调试器时产生 TAP 控制器的随机复位。 该低通滤波器将阻止会导致 TAP 控制器意外复位的瞬态噪声事件。"
"客户希望仔细检查。

以下理解是否正确？
如果系统不使用 JTAG、即 PCB 迹线未连接到 PD 引脚、则可以使用内部 JTAG/PU。
因此、当不使用 PD 时、不需要外部 JTAG/PU。
如果系统使用 JTAG、即 PCB 迹线被连接至 JTAG 引脚、则 PD 应使用外部 JTAG/PU。

正确。 但是、如果他们不将 PCB 布线连接到 JTAG、则他们将无法将调试器连接到器件。"

适用于 AM62的边界扫描

请参阅 AM62x TRM 中的调试引导模式和边界扫描合规性部分(13.3.4)。
边界扫描工具必须在 TRSTn 上升沿之前将 EMU 引脚设置为适当的值、以选择边界扫描 TAP 控制器。

边界扫描
该器件支持使用符合 IEEE 1149.1标准的 JTAG TAP 进行边界扫描、该 TAP 可以通过看到
使用合规性使能模式(请参阅第13.3.4节)。 IEEE 1149.1和1149.6边界扫描支持
在特定于器件的 BSDL 文件中定义、这些文件可在 TI.com 上相应器件的产品文件夹中找到。

SoC 地址空间
器件架构可通过 SoC 地址空间提供对片上调试资源的访问。 减少
包括对所有 DAP 访问端口(AP)以及 Debug-APB 地址空间的访问。

13.3.4调试引导模式和边界扫描合规性
EMU1和 EMU0器件引脚用于传达调试引导模式行为、也可用作器件的一部分
合规性序列的单个实例、以启用边界扫描功能。

调试和连接器引脚

关于调试、文档中不是很清楚 JTAG 和跟踪的2个用于 ARM 和 DSP 吗？
所需的引脚数很重要、在评估板上、这是一个60引脚的连接器、但并未全部使用、因此我们可以进行优化、但即使这样仍然有很多引脚、也没有任何可选信号？ 我们是否必须拥有一切？ 让我感到意外的是某些信号可在2个不同的引脚上输出(数据表的表6-115)。
此致

JTAG 信号(TRSTn、TCK、TMI、TDO、TDI)可用于访问器件内的任何处理内核(包括 ARMS 和 DSP)。 您可以访问所有寄存器、内部存储器等。。 标准调试器功能。 跟踪用于收集处理内核捕获/记录的信息、并卸载到外部调试器以用于历史记录、检查等 信号包括 CLK、CTL 和基于所需带宽的可配置数据宽度。 TRACE 是一个可选接口、但建议至少支持用于调试的 JTAG。
我们的 EVM 使用 MIPI-60连接器来实现 JTAG + TRACE。 还有其他连接器标准用于匹配只有 JTAG、因此引脚较少的调试器。

此致、

Sreenivasa

尊敬的电路板设计人员：  

AM64x 的其他输入

AM6442：对于 JTAG 连接器、TRST 和 TCK 应该上拉还是下拉？
e2e.ti.com/.../5345412

AM2434：如何进行边界扫描测试
e2e.ti.com/.../5165506

此致、

Sreenivasa

尊敬的电路板设计人员：  

用于边界扫描的其他输入  

AM625：JTAG 锁定时边界扫描的可用性
我们假设、如果 JTAG 在安全性方面处于锁定状态、则边界扫描功能不可用。 另一方面、如果我们通过注入调试证书等方式解锁先前锁定的器件、边界扫描也将再次可用。
这些假设是否正确？
边界扫描功能仍可供使用、但通常可通过 JTAG 获得的下游调试功能被锁定。

HS-SE 和 TI-dummy 密钥硬件 TDA4VM 上的边界扫描
在 TI-dummy key 硬件和 HS-SE 硬件型号上锁定 JTAG 后、JTAG 锁定中是否还包含边界扫描功能？ 如果答案是否定的、TI 建议通过哪些工厂流程来使用这些硬件型号执行边界扫描？ (考虑此问题、可以假定 HS-SE FS 元件已熔断电子保险丝、从而使其在运行边界扫描之前成为 HS-SE)
边界扫描在 HS 器件上*未*锁定。

请确认在制造时 HS-SE 器件(不解锁 JTAG )是否可以进行边界扫描。
是的、仍然可以使用 BSCAN。

我们需要定义 TDA4VM 上边界扫描测试的上电顺序。
我们想知道是否应该使用输入电源为电路板加电、以便 PMIC 可以启用各种电源轨
或者我们是否应该通过测试点向各种电压轨施加电压？ 或者是否有其他方法可以执行边界扫描？
标准工作模式和边界扫描测试的功率级别和序列要求是相同的。
每个电源轨的电压电平没有变化、电源时序没有变化、并且需要加电的电源轨没有变化。

AM2431：此边界扫描功能的作用是什么
e2e.ti.com/.../am2431-what-does-this-boundary-scan-function-refers-to

边界扫描
e2e.ti.com/.../am623-jtag---boundary-scan

AM6548：AM65x 上 HSFS 的边界扫描
e2e.ti.com/.../am6548-boundary-scan-for-hsfs-on-am65x

JTAG 边界扫描函数的工作方式应该与与与器件类型(GP 或 HS)无关的情况相同 I、e、JTAG 边界扫描应该始终工作。  另一方面、JTAG 调试访问取决于器件类型(GP 或 HS)

e2e.ti.com/.../am625-boundary-scan-issues
AM625：边界扫描问题

AM623：如果不使用 CSI、但应使用边界扫描来处理 W13、W14？
e2e.ti.com/.../am623-if-csi-is-not-used-but-boundary-scan-is-what-to-do-with-a8-and-a10

AM62P5-Q1：Z1：HW：HS 器件上的 JTAG 边界扫描
e2e.ti.com/.../am62p5-q1-z1-hw-jtag-boundary-scan-on-hs-devices

AM2434：JTAG 边界扫描和调试信息/功能
e2e.ti.com/.../am2434-jtag-boundary-scan-and-debug-info-capabilities

此致、

Sreenivasa

尊敬的电路板设计人员：  

用于 EMU0/EMU1连接的其他输入

AM62A3-Q1：HW：不使用 JTAG 端口时

如果不使用 JTAG、是否可以将 EMU0/EMU1/TCK/TDI/TMS/TMS/TDO/TRSTn 保持开路？

您是否将任何 PCB 布线连接到这些引脚？ 如果是、它们需要外部拉电阻器来帮助保持有效的逻辑状态。 否则、您可以将它们保持未连接状态。 然而、这种做法风险非常大、因为如果系统出现问题、您将无法连接调试器来查看具体情况。

无 PCB 布线。 TRSTn 使用内部下拉、而其他则使用内部上拉来打开焊球。
这是正常的吗？

可以、只要您未将任何 PCB 引线连接到这些封装端子即可。
我们希望外部上拉电阻在连接任何 PCB 布线时保持这些引脚上的有效逻辑状态、因为
内部拉电阻器弱且非线性。 我们之所以提出此建议、是因为电气噪声可能会在未驱动时耦合
PCB 布线和内部弱拉电阻可能无法保持有效的逻辑状态。 内部电阻器应该是能够的
在端子上未连接信号布线时保持有效逻辑状态。
数据表"连接要求"表介绍了该主题。

AM62]具有 JTAG 的 EMU0/EMU1
您能否告诉我们在使用 EMU0和 EMU1时除了正常 JTAG 之外还有哪些其他功能/数据可用？
emu0/1信号有2个用途。 一种是在启动时控制器件行为；请参阅 AM62 TRM 的第13.3.4节。
另一个示例添加了用于实时调试的交叉触发功能；请参阅 TRM 第13.3.6节。

TDA4AL-Q1：EMU0/EMU1引脚对于片上调试是否至关重要？

在使用 CCS/XDS560v2调试 TDA4AL HS 系统时、EMU0/EMU1引脚是否至关重要？
根据互联网上提供的一些文章、这些 PIN 似乎是可选的。
我们是否能够安全地阻止这些引脚、以免这些引脚未连接到仿真器？
(对下一个电路板迭代的布线有一些限制、因此最好不要暴露 EMU0/EMU1)

EMU0、EMU1可用于在 ROM 执行之前暂停处理器。
如果调试安全问题、这有时会很重要、因为这可能会影响通过 JTAG 访问器件。 如果需要调试初始引导/安全问题-那么我建议提供支持。 如果超出这一范围的调试工作(更多的应用/外设级别)、则可能不需要。

根据您的回复、典型的 R5 SBL 和引导应用程序调试会话与 EMU0、EMU1引脚无关？

EMU0/EMU1引脚不是 JTAG、也不是跟踪记录接口(TRC)的一部分。
调试 IP 中提供了这些任务、可针对通用触发器进行设置。

TDA4VM-Q1：BSDL 测试点
我们的客户正在准备进行 BSDL 测试、发现他们没有在 EMU1上放置测试点。 如果未对 BSDL 进行测试、则测试覆盖范围的哪个部分会下降？ 我们是否有详细说明 Jacinto BSDL 测试硬件配置的文档/指南？
在 TDA4VM (J7ES)上、需要在 POR 时让 EMU1=0才能进入 BSDL 模式。 如果不可用、则他们将无法访问边界扫描。
TDA4VM 的公共 BSDL 文件位于 www.ti.com/.../sprm751位置
它详细介绍了链上的焊盘。 其一致性模式确实要求 EMU1=0来实现模式进入。
J721E 的 attribute compliance_patterns：实体为"(DDR_ret、PORz、MCU_PORz、reset_reqz、MCU_resetz、 emu0、emu1)(0111110)"；

SoC 中具有多个域和多种功能模块。 客户想知道 BSDL 测试可以涵盖哪些器件？
客户想要评估无法运行 BSDL 测试时的影响。
客户电路板上的生产芯片只能测试扫描链上的实际 IO。
一些客户使用它来查找 PCB 上的开路/短路、另外一些客户使用 BSDL 作为烧写板载闪存芯片的备用方法。

TDA4AH-Q1：使用 EMU[1：0] TI 扩展

EMU[1：0] TI 扩展行的用法是什么？ 在我们的板上,我们无法将它们连接到 JTAC。 我们计划将它们通过电阻器连接到固定电平。 从 EVM 页面4514可以看出、将两者都连接到高电平是一个好主意。 如果没有连接到连接器、我们将会失去什么？

对于缺省设置/生产系统、EMU0和 EMU1都应该通过一个1k Ω 至10K Ω 的电阻器被拉高。
应公开和设置开发系统上的 EMU0/1。 他们习惯了：

用于开路/短路测试和可能刷写的信号 BSDL 模式进入(POR 锁存)
信号 WIR 模式进入(POR 锁存)、可用于运行与字符项目配合使用的裸机代码
如果没有这个、工作固件和基本启动映像就必须处于黄金状态。
这可以是一个鸡和一个鸡蛋为一个新的板。
WIR 还允许使用 JTAG 在 HS 电路板上进行初始闪存烧录
另一种方法是确保可以进行 UART 引导+稳定引导映像+该引导映像中的稳定闪存器。
以上内容可能包含大量细节问题、而 JTAG 刻录完全绕过这些问题
与调试器和外部器件一起使用的运行时间外部触发源
运行时(非 POR 相关)

JTAG-AM243X：硬件 MCU-PLUS-SDK 调试 emu0 emu1
e2e.ti.com/.../mcu-plus-sdk-am243x-hardware-jtag-debug-emu0-emu1

EMU0/1外部用于：
复位等待(WIR)
适用于 HS 器件、以实现早期电路板检查和 JTAG 闪存
边界扫描
适用于旧式开路/短路测试和闪烁烧写
调试触发器
输入与不同调试操作相关联的输出触发器

因此、我们建议您将 EMU[1：0]引脚连接至调试连接器、并在未连接到调试器时使用外部上拉电阻器将这些信号保持为高电平。

e2e.ti.com/.../5043123

e2e.ti.com/.../4424403
AM2434：在 JTAG 调试中、如何连接 EMU0和 EMU1？

e2e.ti.com/.../am625-am6254x-emu0-emu1
AM625：AM6254X EMU0 EMU1

e2e.ti.com/.../sk-am62a-lp-am62a-series-mpu-jtag-connection
SK-AM62A-LP：AM62A 系列 MPU JTAG 连接
JTAG 连接器为调试器供电、因为它具有一个内部电平转换器、其 SOC 端口由目标供电。 每个 JTAG 信号路径中的缓冲器/电平转换器元件也像一个开关一样运行、用于在板载调试器或连接器之间进行选择。 大多数客户将连接器放置在处理器的几英寸范围内、并使用适当的外部拉电阻将引脚直接连接到 SOC。

6英寸的信号布线长度不是严格的要求。 短信号布线将更大限度地减少信号失真和信号传播延迟。 最重要的是确保时钟信号没有任何非单调转换。 您始终可以通过减慢调试器的 TCK 工作频率来解决时序问题。

e2e.ti.com/.../5043123
AM62A7：AM62A AXI 总线访问未显示任何内容
解决方案是使用 WIR 模式来实现接近 GP 的可访问性。 要获得此状态、需要驱动 EMU0=0和 EMU1=1。 完成该配置后、现在可以访问寄存器。

e2e.ti.com/.../5031751
TDA4VH-Q1：调试器接头选项

此致、

Sreenivasa