Other Parts Discussed in Thread: OPT3101
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器件型号： OPT3101EVM
Thread 中讨论的其他器件： OPT3101
您好、Joseph：
感谢您对我先前关于 SUB_VD_CLK_CNT 寄存器设置的询问提供的支持。
参考我的上一个主题 (https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1594908/opt3101-technical-inquiry-on-low-duty-pulsed-operation-0-1-duty-cycle-with-opt3101)
按照您上次讨论中的建议、我已经购买了 OPT3101 EVM 、现在可以继续进行实际测试。 我的主要目标是有效减少 TX 脉冲数（缩短突发长度）并验证输出波形。
关于这一点、我有几个具体问题来确保我在 EVM 上正确配置和测量器件：
1.计算和寄存器设置: 在上一个响应中,您提到设置 SUB_VD_CLK_CNT = 0xb100 会产生大约 100ns 的时间。
- 您能解释一下理论上的计算方法吗？ 我需要了解寄存器值（十六进制）如何映射到实际时长或脉冲计数。
- 在计算该值时、我是否应该注意特定的位字段或时钟分频器？
2.减少 TX 脉冲的推荐方法:
- 是否修改
SUB_VD_CLK_CNT最有效的方法来减少发送的脉冲数？ - 是否有任何其他推荐的寄存器或替代方法来实现更短的 TX 突发而不显著影响测量性能？
3. EVM 上的验证：
- 建议采用什么程序来验证 EVM 上的脉冲计数减少？
- 您能否指导我如何确定 EVM 上的哪些测试点 (TP) 或引脚、我应该使用示波器进行探测、以便清楚地观察缩短的 TX 波形？
感谢您提供有关如何使用 EVM GUI（或寄存器映射）进行此设置以及如何物理验证结果的指导。
此致、
亲爱的 JeaHyeok。
