This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TMP112:时基故障(FIT)数据

Guru**** 544840 points
Other Parts Discussed in Thread: TMP112
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/972540/tmp112-failure-in-time-fit-data

器件型号:TMP112

我对器件型号 TMP112AIDRLT 的时基故障(FIT)数据感兴趣。 具体而言、我希望获得:
执行时基故障测试时的温度
2.拟合 E9值(10亿小时后)或拟合 E6值(100万小时后)
3.芯片的激活能量(EA)

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    护林员、

    可为 TMP112提供的 FIT 数据如下。 请记住、这适用于 TMP112AQDRLRQ1可订购产品。 (TMP112-Q1)

    元件故障率符合 IEC TR 62380/ISO 26262第11部分

    • 总时基故障率- 4.
    • 裸片时基故障率- 2.
    • 封装时基故障率- 2.

     

    组件故障率符合 Siemens Norm SN 29500-2

    • 类别- CMOS/BICMOS ASIC 模拟和混合≤50V 电源
    • 参考时基故障率- 25 FIT
    • 参考虚拟- 55°C

    Jalen