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[参考译文] TMP75-Q1：配置寄存器的软错误率

admin
Guru**** 535315 points
Other Parts Discussed in Thread: TMP75, TMP461-SP
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/965273/tmp75-q1-soft-error-rate-for-configuration-registers

器件型号：TMP75-Q1
主题中讨论的其他器件：TMP75

大家好、我们将使用几个 TI 温度传感器、例如 TMP75AQDGKRQ1、用于安全关键型设计。 目前、我将研究此类器件的配置寄存器中的软错误在多大程度上以显著的速率出现或可以安全忽略。 感谢您提供任何信息。

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    TI__Guru**** 535315 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、Tilmann、

    您是否会介意澄清软错误的含义？ 这是否是有关在复位/上电时使用正确的值启动寄存器的信息？ 还是在通信后寄存器无法写入正确的值？

    如果您可以提供有关您查找的软错误的更多详细信息、我可以提供进一步的帮助。

    Jalen

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    TI__Guru**** 535315 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    您好、Jalen、

    感谢您的回答！

    我担心的是、配置寄存器的状态在连续运行期间可能会因宇宙辐射的影响而损坏。

    这可能导致 TMP75无法检测欠压/过压情况并正确将中断信号置为有效。

    宇宙辐射可能会导致寄存器位的单粒子翻转(SEU)。

    SEU 是低电压高度集成器件的已知影响、因此可能与 TMP75无关。

    TI 可能具有针对软错误率的测量数据、或提供 SEU 可以忽略的信息。 如果两者都不适用、则该器件中使用的 CMOS 技术可能有助于判断软错误的易感性。

    非常感谢您提供的任何信息！

    Tilmann Ochs

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    TI__Guru**** 535315 points
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    Tilmann、

    在内部讨论之后、这里有几个选项。 我们确实有经过辐射测试的 TI 器件。 这些器件经过专门制造和测试、处于您所指的宇宙辐射等臂架辐射范围内。 目前、经过此测试 的唯一温度传感器是我们的远程温度传感器 TMP461-SP。 下面是 单粒子效应测试报告 、以了解有关该研究的更多详细信息。

    对于汽车应用、我们通常不会看到宇宙辐射会使汽车混乱。 但是、如果宇宙辐射确实击中器件、则可能会发生故障。 在这种情况下、我建议使用两个不同的器件、以便它们不会以相同的方式发生故障。 对于另一个自动认证数字温度、建议使用 TMP112-Q1。 这种冗余是我们看到客户实施的常见安全方法。 此处提供了其他提供功能安全型温度传感器的完整列表。

    Jalen