• State Resolved
  • Locked Locked
  • Replies 5 replies
  • Subscribers 0 subscribers
  • Views 61 views
  • Users 0 members are here
Options
Options
Similar topics

This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] LMT86：漂移/长期稳定性

admin
Guru**** 1555210 points
Other Parts Discussed in Thread: LMT86
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/637702/lmt86-drift-long-term-stability

器件型号：LMT86

您好！

我在我的设计中使用的是温度传感器 LMT86。 我开始做 FMEA、并考虑了传感器的"长期稳定性"问题：LMT86的输出电压和温度之间的关系是否随时间变化、您能否为该漂移指定一个值？

非常感谢、此致、

Jördis μ A

  • 0
    TI__Guru**** 1555210 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    若尔达、

    让我来看看这个。

    开尔文

  • 0
    TI__Guru**** 1555210 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    大家好、Kevin、

    感谢您的回复。 设计中？ 我所做的就是将温度传感器连接到 ATmega128 ADC、Vcc = 5V。

    这是连接到传感器 RC 低通-> ADC 微控制器的连接器。 一切都很好、精度也很好！ 我的问题是关于传感器随时间变化的行为：当传感器"变旧"时、我可以预计它不会改变、或者输出电压会有轻微变化吗？ 我正在设计的器件的指定寿命为10年、因此传感器输出在此寿命范围内不应变化太大。

    我希望我能澄清我的问题、非常感谢！
    Jördis μ A

  • 0
    TI__Guru**** 1555210 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    若尔达、

    感谢您澄清问题。  我 没有现成的漂移数据、因此我请求我们的团队提供支持。  保持关注。

    开尔文

  • 0
    TI__Guru**** 1555210 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。
    若尔达、

    如果您查看我们产品的质量选项卡、您将看到 DPPM/MTBF/时基故障率：

    www.ti.com/.../pinout-quality

    在125C 下、生命周期测试建模为1000小时、我们看到故障前的平均时间为2.54x10^8秒或~8年。 这处于60%的可信度。 故障定义为在寿命测试后器件未能满足任何数据表规格。

    如果您假设上述测试条件是有效的寿命测试模型、则这意味着漂移可以忽略不计、因为 MTBF ~8年、并且我们的器件将在该时间范围内以60%的概率满足规格。

    目前、我们没有针对该器件的特定漂移规格。 我们只能根据使用寿命测试得出漂移可以忽略不计。
    请告诉我这是否有帮助。

    开尔文
  • 0
    TI__Guru**** 1555210 points
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    您好、开尔文、

    非常感谢您提供的链接和解释、我想这就是我所需要的全部！
    此致、Joerdis