传感器（参考译文帖）(Read Only) - 最近的话题

[参考译文] TMP116：温度精度变化

admin — Mon, 08 Jun 2026 09:23:52 GMT

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https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1653117/tmp116-temperature-accuracy-change

器件型号： TMP116

尊敬的团队：

您能否帮助将 PCN 之前的器件和 PCN 之后的器件之间的温度精度测试数据分享给客户？谢谢。

BRS、

Francis

RE: [参考译文] TMP116：温度精度变化

admin — Mon, 08 Jun 2026 17:58:56 GMT

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您好、Francis、

我们不会与您公开分享这些信息。我想了解更多有关谁在问以及他们为什么要问的信息、以便我们能够更好地支持您。

此致、

Meredith McKean

[参考译文] OPT3101：PHUD 的物体检测研究

admin — Mon, 08 Jun 2026 03:10:45 GMT

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https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1652969/opt3101-object-detection-research-for-phud

器件型号： OPT3101

1、具有竞争力的成本: 确保价格优势。

2、汽车合规性: 符合所有行业标准。

3.核心值（区域检测）:

针对长显示进行了优化（快速检测）。

更好地区分异物和图标。

RE: [参考译文] OPT3101：PHUD 的物体检测研究

admin — Mon, 08 Jun 2026 16:55:43 GMT

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您好、Yi Chuan、

感谢您关注 OPT3101。

我们过去已经针对类似的应用进行了测试、并发现我们可以在 PHUD 模块中检测到这些物体。应注意器件的位置、使整个检测区域都被发射极 FOV 覆盖。

OPT3101 可设计为使用多达 3 个发射极通道运行、非常适合区域检测。

您可以通过电子邮件向我发送 j-scherphorn@ti.com 上的项目范围（时间线，预计体积，项目长度）、我可以与营销团队联系以讨论定价。

谢谢您、

Joseph Schephorn

RE: [参考译文] OPT3001-Q1：亮度调整异常

admin — Mon, 08 Jun 2026 15:41:55 GMT

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您好 Lumina、

1) 我认为我不明白这个问题。我不知道客户在其项目中实施了什么逻辑。

2 和 3) FC[1：0]是用于设置触发 INT 所需的连续相同故障事件数量的寄存器字段。故障事件由用户对下限和上限寄存器的写入定义。

谢谢您、

Joseph Scherphorn

[参考译文] OPT3001-Q1：亮度调整异常

admin — Mon, 08 Jun 2026 13:48:14 GMT

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https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1653232/opt3001-q1-abnormal-brightness-adjustment

器件型号： OPT3001-Q1

尊敬的 TI 工程师：

我们收到了终端客户退回的有缺陷产品。使用逻辑分析仪捕获 I2C 波形、我们发现主机将读取配置寄存器的故障计数字段。读取的故障计数与正常产品不同。

我们怀疑主机读取光检测值的逻辑是首先获取故障计数、然后读取光检测值。当故障计数不为 0 时、主机停止读取光检测值。

I2C 波形和读取故障计数如下：

您能否帮助确认以下问题？
1) 主机读取光传感值的逻辑是否如我们在上面所猜测的那样?
2) 什么是 FC [1：0]的错误机制？
3) FC [1：0]代表什么错误？

谢谢、

此致

[参考译文] IWRL6432AOP：将应用程序映像保存在独立的非易失性存储器中

admin — Mon, 08 Jun 2026 00:19:29 GMT

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https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1652938/iwrl6432aop-holding-application-image-in-deveice-non-volatile-memory

器件型号： IWRL6432AOP

对于空间受限的设计、应用程序映像是否可以存储在器件片上非易失性存储器中、以及我们是否可以避免闪存。

谢谢你

RE: [参考译文] IWRL6432AOP：将应用程序映像保存在独立的非易失性存储器中

admin — Mon, 08 Jun 2026 15:28:38 GMT

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尊敬的 Mahalakshmi：

芯片没有足够的空间将应用映像存储在非易失性存储器中。如果您有非易失性存储器的片外源、则可以使用该非易失性存储器。

如果您还有其他问题、请告知我们。

此致、

David

[参考译文] IWR6243：先上电 3.3V 的问题

admin — Tue, 02 Jun 2026 14:02:26 GMT

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https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1651509/iwr6243-question-about-power-up-3-3v-first

部件号： IWR6243

您好、

下面的勘误表也在其他毫米波器件中找到。它是否也适用于 IWR6243？

在 3.3V IO 模式下、在 3.3V 电源轨的 1.8V 电源轨上观察到反向供电

谢谢、

Chris

RE: [参考译文] IWR6243：先上电 3.3V 的问题

admin — Mon, 08 Jun 2026 14:09:05 GMT

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这方面没有勘误。

客户必须根据数据表信息运行

谢谢你
Cesar

RE: [参考译文] TMP116：温度精度变化

admin — Mon, 08 Jun 2026 09:54:14 GMT

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以及长期稳定性和漂移规格、谢谢。

RE: [参考译文] HDC3020：NIST 认证和校准报告

admin — Sun, 07 Jun 2026 14:32:49 GMT

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尊敬的 Gage：

感谢您的答复。

我同意、您可以通过我的电子邮件与我联系、以便我们开始该流程。

期待通过电子邮件与您进行更多讨论。

此致、

Minh

[参考译文] HDC3020：NIST 认证和校准报告

admin — Wed, 03 Jun 2026 07:06:24 GMT

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https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1651778/hdc3020-nist-certificate-and-calibration-report

器件型号： HDC3020

尊敬的 Texas Instruments 技术支持团队：

我谨此申请 HDC3020DEFR 湿度和温度传感器的 NIST 认证、精度测试报告或 NIST 校准报告。

我们正在将此传感器集成到我们的一个产品中、作为质量和合规性文档的一部分、我们需要证明测量链具有 NIST 可追溯性。 TI（或您认可的测试实验室）提供的校准报告或等效精度认证将使我们能够有效地建立此可追溯性。

能否告知 HDC3020DEFR 是否有以下任何文档可供使用：

NIST 可追溯校准证书
工厂精度测试报告
涵盖该传感器的任何 ISO/IEC 17025 认证的实验室报告

如果此文档未公开提供、请告知我们相应的流程或联系获取流程、例如通过向 TI 质量团队或您的授权分销商提出的正式申请。

感谢您的帮助。我们期待着您的指导。

谢谢、

Minh

[参考译文] TMCS1126-Q1：的过流

admin — Fri, 05 Jun 2026 13:17:37 GMT

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https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1652785/tmcs1126-q1-the-overcurrent-of

器件型号： TMCS1126-Q1
主题中讨论的其他器件： TMCS1126

尊敬的 E2E：

我们正在设计汽车压缩机应用。 TMCS1126-Q1 用于电流检测和保护。
我们发现、当电机正常工作时、TMCS1126 将有一个混乱的脉冲电压输入、我们捕获了波形。

可以看出、脉冲时间为 2.723us>Tmask、这会导致过流保护。
我们能否改进我们的电路、以便在这些变化的脉冲期间不会触发电流保护操作？

RE: [参考译文] TMCS1126-Q1：的过流

admin — Fri, 05 Jun 2026 23:42:44 GMT

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您好、Tommy、

感谢您发送编修。

您可以尝试使用 TMCS1126 的数据表建议吗？

我希望这有助于改进响应。

此致、

Joe

[参考译文] IWRL6432AOP：IWRL6432AOP 定制板：是否在不使用 QSPI 的情况下支持直接 UART 刷写？ UniFlash 无法检测串行端口

admin — Fri, 05 Jun 2026 06:56:49 GMT

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https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1652636/iwrl6432aop-iwrl6432aop-custom-board-is-direct-uart-flashing-supported-without-qspi-uniflash-cannot-detect-serial-port

器件型号： IWRL6432AOP
Thread 中讨论的其他器件： UNIFLASH

TI 团队大家好、

我们正在开发基于 IWRL6432AOP 器件的定制电路板、目前在固件刷写方面遇到困难。

最初、我们尝试按照参考设计使用外部 QSPI 闪存刷写器件。但是、UniFlash 报告无法检测串行 COM 端口、并且刷写过程会失败。

为了隔离问题、我们还根据我们对技术参考手册和引导加载程序文档的理解、尝试使用不带 QSPI 的直接基于 UART 的刷写方法。但是、可以观察到相同的行为：COM 端口在 Windows 设备管理器中可见、但 UniFlash 无法检测到目标器件或与目标器件通信。

以下检查已完成：

配置为刷写模式的 SOP 引脚。
已验证复位信号。
已验证所有必需的电压轨。
已验证振荡器/时钟源。
已验证 UART TX/RX 连接。
COM 端口成功显示在 Windows 设备管理器中。
与 IWRL6432AOPEVM 参考平台进行了比较。

我们希望澄清以下几点：

IWRL6432AOP 上是否支持在没有外部 QSPI 闪存的情况下直接 UART 刷写？
如果支持直接 UART 刷写、具体的硬件要求和软件配置步骤是什么？
是否需要任何特定的 UniFlash 设置、引导模式、实用程序或脚本？
XDS110 调试器对于初始编程是必需的、还是该器件可以通过定制电路板上的 UART 进行完全编程？
是否需要进行任何固件修改、代码更改或引导加载程序配置来启用基于 UART 的刷写？
UniFlash 才能成功检测串行端口并与器件通信之前必须满足哪些条件？
当 COM 端口在设备管理器中可见但 UniFlash 报告未检测到串行端口时、是否有建议的定制电路板调试过程？

我们希望在支持的刷写方法、所需的硬件接口以及定制 IWRL6432AOP 设计的建议调试步骤方面提供任何指导。

此致、
Srinivasarao

RE: [参考译文] IWRL6432AOP：IWRL6432AOP 定制板：是否在不使用 QSPI 的情况下支持直接 UART 刷写？ UniFlash 无法检测串行端口

admin — Fri, 05 Jun 2026 20:27:01 GMT

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您好 Srinivasa、

我要关闭此主题、因为它与您之前打开的有关定制电路板刷写的主题非常相似。请尝试在同一主题中保留类似的问题、以便我们能够跟踪这些问题。

此致、

David

[参考译文] IWRL6432AOPEVM：IWRL6432AOP 定制板：刷写期间无 QSPI SCLK 活动、UniFlash 无法检测串行端口

admin — Fri, 05 Jun 2026 05:52:34 GMT

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https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1652610/iwrl6432aopevm-iwrl6432aop-custom-board-no-qspi-sclk-activity-during-flashing-uniflash-cannot-detect-serial-port

器件型号： IWRL6432AOPEVM
主题中讨论的其他器件： IWRL6432AOP、 UNIFLASH

TI 团队大家好、

我们目前正在调试基于 IWRL6432AOP 器件的定制电路板、并将其行为与 IWRL6432AOPEVM 进行比较。

在使用 UniFlash 进行固件刷写期间、我们观察到以下情况：

在 IWRL6432AOPEVM 上、IWRL6432AOP 器件在刷写过程中在 QSPI SCLK 线路上生成时钟活动、指示与外部 QSPI 闪存的通信。
在我们的定制板上、刷写过程中、在 QSPI SCLK 引脚上不会观察到时钟活动。

我们执行了以下检查：

SOP 引脚配置为刷写模式。
已验证复位信号。
所有必需的电压轨都经过测量并在规格范围内。
振荡器/时钟源已得到验证。
存在 QSPI 闪存电源。
我们检查了硬件连接并将其与 EVM 进行了比较。

此外、Windows 设备管理器成功检测与电路板关联的 COM 端口。但是、UniFlash 报告无法检测串行 COM 端口、刷写操作会失败。

根据与 IWRL6432AOPEVM 的比较、我们预计在刷写期间会看到 QSPI 时钟活动、但在我们的定制板上 QSPI SCLK 保持非活动状态。

请告知：

在刷写期间、器件驱动 QSPI SCLK 之前必须满足哪些条件？
是否有任何应验证的其他硬件信号或引导要求？
没有 QSPI SCLK 活动是否表明存在引导 ROM 问题、引导模式不正确或时钟初始化问题？
是否有建议的调试程序来确定器件在刷写期间不会启动 QSPI 通信的原因？

我们希望获得有关其他测量或调试步骤的任何指导。

此致、
Srinivasarao

RE: [参考译文] IWRL6432AOPEVM：IWRL6432AOP 定制板：刷写期间无 QSPI SCLK 活动、UniFlash 无法检测串行端口

admin — Fri, 05 Jun 2026 20:21:48 GMT

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您好 Srinivasa、

我将关闭此主题、因为它与您在后面询问的主题非常相似。请将类似的问题保留在一个主题中、以便我们可以更好地跟踪它们。如果您有与刷写、QSPI 等无关的新问题、请创建新主题、以便我们可以为您提供帮助。

此致、

David

[参考译文] IWRL6844EVM：XDS 无法识别

admin — Tue, 02 Jun 2026 11:04:05 GMT

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https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1651439/iwrl6844evm-xds-unrecognized

器件型号： IWRL6844EVM
主题： IWRL6844 中讨论的其他器件

我在 IWRL6844 上遇到了问题、其中 XDS 端口不再显示在我的设备管理中。它连接到 DCA1000。在两次测试之间、我想我失去了与 XDS 端口的连接、可能是连接松动或连接后面的元件损坏。我在显微镜上没有看到任何问题、但在使用连接 XDS 的电缆时、LED 有时会振荡

USB 电缆发生了变化、但行为仍然相同、LED 亮起的如下：D6 (USER_LED2)/D3 (PGOOD)/D5 (RESET_LED) 和 DCA1000 的 5V LED

仅供参考、我的连接方式与本指南相同：https://dev.ti.com/tirex/explore/content/radar_toolbox_3_10_00_05/hardware_docs/dca1000_perDevice/dca1000_mmwave_studio_xWRL6844.html

在使用电缆时、IWRL 的 3 个 LED 出现振荡、因此我怀疑连接或硬件问题、即使只留下 XDS 电缆、LED 仍会亮起、但我的计算机上仍然没有 XDS 端口

RE: [参考译文] IWRL6844EVM：XDS 无法识别

admin — Fri, 05 Jun 2026 20:20:05 GMT

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我不确定尝试修复 IWRL6844 EVM 而不是修复它是否值得花时间和精力、但根据所描述的内容、不显示在器件管理器中是一个基本缺陷、可能是由很多原因造成的。

此致、

Pedrorm

[参考译文] AWR1843：稳定的检测伪影

admin — Fri, 05 Jun 2026 07:56:03 GMT

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https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1652668/awr1843-stable-detection-artifacts

器件型号： AWR1843

尊敬的 TI 支持部门：

我们正在与 AWR1843AOP 合作、在我们的定制 PCB 上看到不明原因的强距离伪影。

我们拥有使用同一雷达器件的 AWR1843AOPEVM 和定制 PCB。为了简化比较、我们将使用毫米波演示可视化工具和用于 AWR1843AOP 的标准毫米波演示固件。

在两块电路板上使用相同的配置文件、我们可以看到检测到的距离曲线有明显的差异：

在定制 PCB 上、在大约 60m 处有一个强大且一致的峰值
在 EVM 上、不存在该峰值。
使用另一个固件版本时、行为变得更糟：我们在大约 30 米和 60 米处看到强烈的峰值

视场中没有能够解释这些检测的物体。虽然我们可以配置最大距离来忽略这些距离、但错误检测可能会导致器件或固件不稳定。演示最终冻结、我们必须手动对电路板进行下电上电才能恢复。

我们已经检查了以下内容：

两个电路板均使用相同或等效的线性调频脉冲/剖面/帧配置。
我们检查了配置文件中是否存在冲突参数。
我们回顾了固件代码、了解了物理天线布局与 DSP 预期之间可能存在的天线映射不匹配情况。
到目前为止、我们还没有发现一个明显的问题。

您能帮助我们了解什么原因会导致定制 PCB 上出现这些强误检、尤其是在 30m 和 60m 等固定范围内？

我们特别希望在以下方面提供指导：

这些范围内的固定峰值是否可能表明存在硬件/布局问题、例如射频耦合、时钟、电源噪声、天线馈电问题或 PCB 上的反射。
固件冻结是否可能由较大的错误检测引起、或者这是否指向单独的软件/固件问题。
与 EVM 相比、用于定制 AWR1843AOP PCB 启动的任何建议检查。

此致、

彼得

RE: [参考译文] AWR1843：稳定的检测伪影

admin — Fri, 05 Jun 2026 18:41:37 GMT

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您好、Peter：

关于设置的几个问题/建议：

60 米处根本没有物体？
如果我比较你分享的屏幕截图中的蓝线,我确实看到它中有一个轻微的峰值。我假设这条蓝线对应于我们的 EVM、绿线对应于客户 PCB。是这样吗？
是否可以为定制 PCB AWR1843 芯片运行环回并与我们共享数据？
您使用的是哪个固件版本？哪个固件版本可检测两个不同的峰值 (30m、60m)？当您在 30m 和 60m 之间看到检测时、请分享一张图片。

谢谢、

Ahanaf

[参考译文] AWR2188EVM：AWR2188EVM 电路板校准

admin — Tue, 02 Jun 2026 07:00:45 GMT

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https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1651348/awr2188evm-calibration-of-awr2188evm-board

器件型号： AWR2188EVM
《Thread 中讨论的其他器件： AWR2243、 TIDEP-01012、 AWR2188》

您好、

AWR2188EVM 电路板是否需要单独的校准测量？我的意思是、这类似于 TIDEP-01012 中介绍的级联 AWR2243 参考设计过程。介绍了使用角反射器并独立测量每个 TX 通道的程序。为了获得出色的角度精度、是否还应在 AWR2188EVM 上完成这种过程？

-马蒂

RE: [参考译文] AWR2188EVM：AWR2188EVM 电路板校准

admin — Fri, 05 Jun 2026 16:43:27 GMT

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尊敬的 Matti：

无需单独校准每个通道。如果需要、仍可以单独校准每个 TX。请参阅 AWR2188 硬件架构、该器件具有两个不同的仪表组。校准 TX0 和 TX4 就足够了、因此我们可以参考 TX0 校准数据和点 (TX1-TX3) 来遵循 TX0 校准、也可以使用 TX4 校准数据 (TX4-TX7) 来完成相同的操作。

谢谢、

Ahanaf