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[参考译文] LAUNCHTXL-CC1310:射频晶体频率的外部校准

Guru**** 633810 points
Other Parts Discussed in Thread: CC1101, CC1070, CC1310, CC1021
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/wireless-connectivity/sub-1-ghz-group/sub-1-ghz/f/sub-1-ghz-forum/619500/launchxl-cc1310-external-calibration-of-the-rf-crystal-frequency

部件号:LAUNCHTXL-CC1310
主题中讨论的其他部件:CC1101CC1070CC1310CC1021

在早期的CC1xxx无线电收发器部件上(即 CC1070,CC1101等)我们利用了在其中一个GPIO引脚上输出射频晶体信号的能力(由预缩放器分割)。

在我们的制造过程中,我们测量此频率以确定晶体的"零点"频率误差, 我们将其与温度误差估计结合使用,以计算编程到零件中的频率值,从而为多通道FHSS系统生成所需的RF输出。

如何在CC1310部件上复制此操作? RF晶体输出不是RFC_GPOx信号的可用值之一(据我所了解)。

由于无线电晶体也与主CPU共享,我可以使用24 MHz晶体作为系统时钟,然后使用计时器模块在其中一个GPIO引脚上生成PWM输出。 这是否合理?

我的目标是测量频率误差,分辨率为0.1 ppm,精度高于0.5 ppm。 我想确保计时器模块的PWM输出不会添加任何会使我超过这些限制的晶体计时失真。

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    爱德华,

    是的,我建议只使用计时器。 唯一的问题是,您必须确保在此测试期间强制RF保持打开状态。 我认为最简单的方法是将对讲机配置为RX模式,然后配置为不会收到数据包的频率。 既然RF在MCU上,那么应该切换到24MHz (如果不是,您可能还需要强制这样做)

    此致,
    /TA
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    爱德华,

    但另一个简单的方法是只查看RF输出上的频率错误,因为您知道您对PLL进行编程的操作,因此简单的频率计数器可以查找TX音调,您可以轻松计数...

    此致,
    /TA
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    我使用这种方法(测量RF输出频率)进行"非正式"原型测试,但对于生产测试,我们更喜欢不涉及直接RF频率的方法,因为测试既容易受到RF噪声的影响,又是RF噪声的来源。 另一个优点是我们可以在填充的PCB上执行测试,而无需连接天线,从而节省了人工成本。

    在包装产品之前,我们确实会执行端到端功能测试,包括AFC和RSSI验证,但更多的是作为定性"它是否有效"测试,而不是作为校准测试。

    只要计时器模块的内部门控不会增加太多失真,我确信我可以知道如何确保测量正确的时钟源。

    谢谢你。

    ED

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    您的系统中使用的是哪种数据速率/ RX BW? 我问的原因是,我想知道您通过测试生产中的频率偏移获得了多少收益。
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    数据速率为19.2 kBaud。

    GFSK偏差为9.9 kHz

    RX带宽为51.2 kHz

    这些数据来自我们使用CC1021/1070无线电1070无线电收发器的产品。 我们的新产品必须能够从现场现有设备接收相同的无线电调制格式。  

    我们已将用于噪声抑制的窄接收BW与发射器和接收器之间频率误差的公差进行了交换。 这要求我们采取措施,消除容易测试和可纠正的频率错误源。

    我们已经成功完成了CC1101/1150芯1150芯片的移植,因此我有充分的理由期待也能够支持CC1310。