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[参考译文] CD74HCT4066-Q1:关于温度循环测试条件 (szza026)

Guru**** 2642575 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/switches-multiplexers-group/switches-multiplexers/f/switches-multiplexers-forum/1583457/cd74hct4066-q1-regarding-the-temperature-cycling-test-conditions-szza026

器件型号:CD74HCT4066-Q1


尊敬的 TI 工程师:

我对 szza026.pdf 第 19 页和第 20 页上的“老联合截面数据“有疑问。
www.ti.com/.../szza026.pdf

温度循环测试根据第 19 页上的–40 至 125°C /1000 次循环的条件进行计算。
针对一个–40°C 和+125°C 周期测试了多少分钟的曝光时间?

例如、一个周期为 60 分钟((–40°C 为 30 分钟、<xmt-block1>+125°C</xmt-block> 为 30 分钟)。+125°C。??

谢谢你。

JUNJI.

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    尊敬的 Junji:

    根据温度循环的标准 TI 可靠性测试实践、–40°C 到+125°C 测试中的每个周期在每个极端温度下通常包括大约 10-15 分钟的停留时间、在整个周期的剩余部分中、极端温度之间的转换时间占主导地位。 虽然 SZZA026 应用手册中没有明确说明具体的停留时间、但这些测试通常遵循 JEDEC JESD22-A104 方法、整个周期大约持续 40-60 分钟。

    谢谢您、

    Arya