大家好、
我的客户希望了解正确测量"输入泄漏电流"的实验设置。
您能告诉我您在器件 特征描述过程中使用的设置吗？
我们特别想知道我们应该如何处理未经测试的引脚、就像 No1-COM1泄漏测试期间的其他引脚情况一样。
此致、
Takashi Onawa
你好，Takashi，
泄漏电流的测量方法有两种、具体取决于您测试的泄漏电流。
如果您要测量泄漏电流、开关将打开。 为了测量关断电流、它们在通道的两个端子上连接了一个电压源、然后测量两侧的电流。 TS12A44514的数据表未显示测试设置、但此测试不会因器件而发生很大变化、唯一的变化是要使用的端子数量。
因此、除了1：1配置外、测试设置与此类似：
对于导通泄漏电流、设置更改为开关闭合的设置、且源极对面的引脚保持悬空、当开关导通时、Vd ~ Vs 将变为。然后、它们测量器件在该设置中拉取的电流。 再说一次、该数据表不显示测试设置、而是其他数据表显示了测试设置、因此这里是测试设置的另一个示例、请记住、工程图上的配置与实际器件不同。
对于这些测试中的其他引脚、我建议采用以下方法：
关断泄漏电流：
VCC = Vcc
GND = GND
INx = GND
导通泄漏电流：
VCC = Vcc
GND = GND
INx = Vdd (x 是您要测试的泄漏通道)
另外、请确保遵循下面显示的黄色突出显示的数据表中列出的测试条件：
此外、为了快速降低多路复用器中的泄漏电流、 我们在这里提供了一个高精度实验室视频
此致、
Parker Dodson
你好，Takashi，
对于您的第一个问题：可能会有小幅增加、但不应太大。 大部分关断泄漏来自连接到 NO/NC/COM 端口的 ESD 二极管、因此其他端口不应产生影响、因为它们未进行电气连接、但可能会略有增加、但与其他泄漏源相比、这种情况可以忽略不计。
对于第二个问题：这不应导致泄漏电流出现严重的上升。 大部分泄漏来自 ESD 二极管；此泄漏取决于二极管 Vd = V_com/nc/no - VDD 的反向电压电平。 该值越高、电流越高、但导致二极管泄漏的最大因素是温度。 我认为这不会导致问题的原因是、我们仍然看到12V 电源的相同规格、测试条件不同、如下所示：
尽管如此、尽管 Vcom 大于 VNO/VNC 的测试条件会产生较小的泄漏电流、因为这将降低 ESD 二极管上的反向偏置电压量、即使这种降低很可能可以忽略不计。
我不确定是什么导致了客户系统中的问题、但如果您能提供我的以下信息、以便我了解我们可以采取哪些措施来修复此项目、我很乐意为您提供帮助。
您在客户系统中看到的是什么级别？ 即、您使用的电源是什么、电路板的测试条件是什么(包括工作温度)、您的客户是如何测量泄漏电流的、您测量的泄漏电流是什么？
