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器件型号：CC2530 主题中讨论的其他器件：CC2538、 CC2592、
我在更新设计(303)时遇到基于现有功能设计(302)的验证错误。 Erase、Erase 和 Write 函数在各种 Windows 安装和 SmartRF04EB 中使用了混合结果。 任何闪存读回或验证失败。 我们已使用最新的闪存编程器和带 SmartRF04EB 的 SmartRF Studio 与器件通信。
布局密切关注 CC2538_CC2592 EM 设计、以了解相关芯片间距和布局详细信息。
从有关该主题的现有 TI 博文来看、DD+DC 信号完整性和32 MHz 晶体时序似乎是普遍的原因。
我在最新设计 和现有已知良好的设计中包含了闪存写入 DD+DC 线路和32 MHz 晶体的示波器捕获。 我在所有测量中使用了无源10x、300 MHz 探头、DUT 由笔记本电脑电池通过 SmartRF04EB 供电。
我有布局 CAD 和其他有用的评估材料。
302晶体：
303晶体：
303 DD+DC：
