TMS320F28335: 芯片发热，AD采集随着芯片温度的升高而升高，采集值与输入的实际值不符

你好，你的板子应该是自己设计的？

芯片发热的具体温度有测试过吗？或者工作一段时间工作后发热程度怎么样？人体能否耐受？

除了芯片温度的关系，有没有测试过温度升高时，对应的输入电压是否有变化？

最后，不知道你的测试程序是自己编写的还是用的TI例程？建议先用TI例程测试一下硬件是否有问题：C:\ti\c2000\C2000Ware_3_04_00_00\device_support\f2833x\examples

板子是自己设计的，具体温度没测过，但是把手放上去稍用力压一下会有点烫手，芯片温度升高的时候，对应的模拟输入电压不变，变得只是芯片AD转换后的电压，而且重新更换芯片后，通过AD转换后的电压还不一样

有没有用例程测试过采样值？如果用例程还是会出现同样的问题，那就更偏向是硬件电路上的问题了。但硬件问题的话就很难从我这边解决了，只能给出一些建议