Other Parts Discussed in Thread: UNIFLASH, C2000-GANG
问题1：STL中FLASH_ECC例程中，使用的是FLASH_ECC的TEST模式作为演示，我想问一下，在我自己的APP程序中，上电自检时，是否需要使用TEST模式？
如果不需要的话，是否只要使能FLASH_ECC及对应的中断即可使能FLASH_ECC检测？
问题2：STL的FLASH_ECC例程中计算了对应FLASH地址，对应数据的ECC值，用于TEST模式下的ECC测试，
那我在我的APP中，需要计算出对应的ECC吗？
是的话，该如何编程呢？
这个ECC校验码是编译时自动计算出来，并写入到对应的ECC_FLASH地址中的吗？
问题3（基于问题2）：在TRM的6.9章节中，图6-3所示的红圈部分，
这个ECC码是由APP自己计算生成的？
还是编译器编译完后生成的？
是否是存储在问题2图2的红圈地址中？
以上3个问题，期待得到回复，谢谢。
