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请教关于LM25066使用情况

Other Parts Discussed in Thread: LM25066, CSD17556Q5B

用LM25066做热插拔线路,由于电流较大,而且为了防倒灌,用了四组背靠背的MOSFET,也就是说LM25066的Pin13 Gate Pin接了8个MOSFET。

现在发现打回来的板子中,已经出现了3片板子发生LM25066坏掉的情况,都是Gate Pin阻抗偏低,换掉IC后,板子OK。三片板子都是在使用过程中发现这个情况,请问这个大概率是什么原因导致LM25066 的Gate Pin损坏?我应该做什么来验证和改善?谢 谢!

  • Hi
    能否提供一些波形,例如启动之初的输入,输出,以及g极驱动?
  • 我抓了开机和关机的波形,VIN ,VOUT,    Vgate

  • Hi
    从波形看是乎没有什么问题。只是芯片驱动损坏,其他都没有问题,不良比率多少(共做了多少片)?
  • 目前做了30片板,已经坏了三片,这三片板换了LM25066之后,IC Gate阻抗正常,可以正常开机;坏的三片IC都是Gate阻抗偏低;以前我们做过这样的设计,也是60A电流,用了4个MOS并联,量产过从来没遇过LM25066坏的,这一次由于后端有电池,所以为了防倒灌,在之前的4个MOS前加了4个背靠背MOS设计,所以这一次Gate一共接了8个MOS,不知道LM25066对于驱动8个MOS是否有什么风险(gate电流太大?),也有可能是gete电压冲过20V导致这个pin烧坏?

    下面是我们这一组设计的线路,如果您方便的话,麻烦您帮忙check一下,看看是否线路本身设计有风险。

    我们使用的设计工具是“LM25066_Design_Calculator_REV_C.xlsx”,这是以前代理商给我们的设计工具。

    LM25066 FOR 60A.pdf

  • Hi
    我觉得不应该是8个MOS导致电流过大导致的,原因是这个和一般的电源芯片g极不同,他是恒流充电。相比8个MOS G极等效电容的溶值, 在外加的DV/DT电路同样有个较大的电容在充电。
    不过你可以确认一下你选择的MOS, 是否Qg都非常大。另外是否可以再做一版验证一下,不增加DV/DT电路,因为你本身MOS 8个,等效起来电容就很大。
  • 您指的DV/DT电路具体是哪一部分?是下面绿色圈圈中D45,R1668那一部分吗?如果把这一部分断开,那么有可能Vgate上升会更快,这样的话,是不是更容易造成浪涌电流或电压?我们之前调试过,通过增加或者减小C2758来改变Vgate上升的时间。

    MOS是CSD17556Q5B,当初选择这颗MOS,是因为它的SOA比较大,没有关注Qg的值;

  • Hi Johnsin,
    是否有其他的建议,谢谢?
    您指的DV/DT电路具体是哪一部分?是下面绿色圈圈中D45,R1668那一部分吗?如果把这一部分断开,那么有可能Vgate上升会更快,这样的话,是不是更容易造成浪涌电流或电压?我们之前调试过,通过增加或者减小C2758来改变Vgate上升的时间。