TI的工程师们，你们好。
根据《CC256x Testing Guide - Texas Instruments Wiki.pdf》中我看到了进行BT SIG测试建立的方法，在《RF.TS.p30e2.pdf》中也可以看到SIG定义的各项测试指标，如：
RF/TRM/CA/BV-01-C [Output Power]、RF/TRM/CA/BV-02-C [Power Density]、RF/RCV/CA/BV-01-C [Sensitivity – single slot packets]等测试案例。
我想知道在tester与DUT建立测试后（test activate完成），如何控制DUT进行各个测试案例的切换呢？（如从测试RF/TRM/CA/BV-01-C [Output Power] 切换到 测试RF/RCV/CA/BV-01-C [Sensitivity – single slot packets]）
