Hi Ti 工程师：
目前我司做的一款产品使用到CC113L射频方案，与单片机一起lay在小插板上；电源板使用的非隔离方案并通过LDO对小插板供电。
根据近期多款样机的测试对比发现，针对EFT测试CC113L射频会出现两个问题：
1、软件死机现象：EFT高压4000V测试，起始测试时或者电压翻转时，会出现软件卡死进入死循环现象，按键和射频发射器均失效；重新上电即可恢复正常，测试射频传输距离没有明显变短；
2、射频芯片损伤现象：EFT从低压开始测试，一直测试到4000V均可以通过，但是再此验证射频距离，射频芯片出现异常射频距离明显变短，更换新射频芯片CC113L，射频距离恢复正常；隔一段时间再次测试不良芯片，射频距离没有恢复；电源底板.pdf射频模块.PDF射频模块PCB.pdf
针对硬件方面：方案原理图以及PCB layout已经帮忙确认，没有问题。针对ESD器件也有在控制板电源输入端加并测试，但是没有起到效果；
针对软件方案：目前由于大部分样机测试会进入软件死机现象，经过软件同事分析，是由于EFT测试过程中，单片机射频校准失败，导致陷入死循环无法正常启机；
软件具体实现方式如下：
