DC-DC产品带插座测问题

我是一名IC测试厂的工程师,在测试DC-DC芯片时,有客户要求是闭环测试。即控制器芯片加外围电感,电容等构成完整的闭环进行测试。测试时,当负载较大时电路容易烧毁或者电路功能异常。分析是插座的寄生ESL和ESR引起的,有没有做过类似产品测试的大牛,行业内DC-DC芯片都是闭环测试的吗。个人感觉闭环测试的方法是有问题的。

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