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• RE: [参考译文] ADC3222：NSD 处于极低频率技术规格

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的 David： 是的、1/f 噪声可能会受到输入信号的影响、尤其是在它未被正确滤除的情况下。 电源 也可能是1/f 噪声源。 我放大了图、以便更好地看到较低频率下的影响： 斩波器禁用(左)和斩波器启用(右) 此致、Amy

  • over 1 year ago
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• RE: [参考译文] ADC12DS080：ADC12DS080和 ADC3222的比较

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Koki、 今天、我将 在当日之前分享 ADC3222的数据。 仍在使用 ADC12DS080。

  • over 3 years ago
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• RE: [参考译文] ADC3222：如何将 CLK 引脚和数据引脚连接到 FPGA

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 用户、 SYSREF 与抖动无关。 这仅用于同步多个器件。 输入时钟分频器可为系统时钟架构设计提供更大的灵活性。 这对抖动没有帮助。 SYSREF 仅在 CLK DIV 设置为0xC0 (div 4)或0x80 (div 2)时工作。 如果您不打算使用 sysref、请将 SYSREFP 连接到 AVDD、将 SYSREFM 连接到 GND。 SSYREF 是差分的、以避免更少的触发毛刺脉冲的机会…

  • over 4 years ago
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• RE: [参考译文] ADC3221：最小采样率

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 Renan、您好！ ADC3222系列实际上无法在15MSPS 以下可靠采样(请参阅数据表的第47页)。 如果您想进一步讨论、请随时向我发送电子邮件。 此致、 Dan

  • over 4 years ago
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• RE: [参考译文] ADC3222：ADC3222基本测试图形生成过程

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Itoh、 下面是我在评估模块上执行的在 CHA 上启用全零测试模式的过程。 对于不同的通道、可重复此操作、其各自的寄存器写入可在数据表的寄存器映射部分找到。 0x06 0x02 #Enable 测试模式 0x0A 0x10 #启用 CHA 上的所有零 如果客户仍在 MSB 位置看到1、这可能是由于使用了数据格式(二进制补码)。 要更改为偏移二进制、请写入以下地址和数据值…

  • over 5 years ago
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• RE: [参考译文] ADC3222：ADC3222

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 Serkan、 如果您对 CLK 信号进行交流耦合、您应该可以正常工作。 我强烈建议不要使用来自 FPGA 的任何时钟、因为它们通常具有非常高的相位噪声、这会显著降低 ADC 性能。 有关这方面的更多信息、请参阅数据表的第9.3.2.1节。 此致、 Jim

  • over 6 years ago
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• RE: [参考译文] ADS4222：与同步采样兼容的 ADC

  

  admin

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 本田、 此信息称为孔径延迟。 下面列出了 ADS4222数据表的第20页上列出的内容。 这就是我想他们所寻找的。 "同一器件的两个通道间的孔径延迟匹配 ± 70ps " "两个器件在相同温度下的孔径延迟变化和 ± 150ps " 您可以查看 ADC3xxx 系列、因为它们是较新的器件。 ADC3222是双路12位50Msps 器件。 该系列中还有许多其他器件…

  • over 6 years ago
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• RE: [参考译文] ADC3222：ADC3222布局说明

  

  admin

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 谢谢 Jim！

  • over 7 years ago
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• RE: [参考译文] ADC3222：ADC3222

  

  admin

  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 Shlomi，您好！ 1.请提供捕获的原始时间域数据文件，并提供准确的采样率和输入频率。 2.请将设备置于斜坡测试模式。 您应该能够在4时钟中看到数字代码更改一次，并遵循从0到4095的斜坡模式。 这是为了确保ADC和FPGA (或ASIC)之间的数字链接正常工作。 此致， Sourabh

  • over 7 years ago
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• ADC3222手册上的参数缺失

  

  victor chou

  Other Parts Discussed in Thread: ADC3222 和其他型号的ADC不同，网上下载的器件手册上没有看到DNL,INL两个指标。 哪里能够获得最新的手册？

  • over 9 years ago
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