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• RE: [参考译文] ADC32RF55：IBIS 模型

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的 Taito： 查找附件。 这就是为该器件的 ibis/AMI 模型设计的所有内容。 此文件不会有任何更新。 e2e.ti.com/.../adc32rf5x_5F00_IBIS_5F00_models.zip 蔡斯

  • 4 个月前
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• RE: [参考译文] ADC32RF55：上电后的初始器件配置

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的宣亚： 文件共享服务仍关闭。 请在此处查找提及的文件： e2e.ti.com/.../ADC3xRF5x_5F00_API_5F00_v0p1p17.zip 谢谢、Chase

  • 4 个月前
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• RE: [参考译文] ADC32RF55：器件配置期间的奈奎斯特区域

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的宣亚： 是的、在500MSPS-2250MSPS 之间使用此部分。 谢谢、Chase

  • 4 个月前
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• RE: [参考译文] ADC32RF55：峰值射频输入功率

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 许启生 这是指任何输入引脚、不一定是任何差分输入对。 在器件损坏之前、客户可以在每个输入上允许+12dBm 的功率。 建议保持在 ADC 满量程以下。 谢谢、Chase

  • 7 个月前
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• RE: [参考译文] ADC32RF55：断电序列

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 Taito、 上电序列对于确保器件在任何 SPI 之前处于相同状态非常重要。 断电不太重要。 断电可以按任何顺序进行、也可以同时全部关闭、因此不会对器件造成风险。 谢谢，Chase

  • 8 个月前
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• RE: [参考译文] ADC32RF45EVM：有关"slau620e.pdf"用户指南中的问题。

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的和彦： 这些器件周围有很多开放空间、因此我不确定我所指的窄间距-这些器件均为标准0201尺寸。 需要使用显微镜进行焊接。 很多人不能焊接这些、而这个解决方案只适合能够使用0201工作的人。 您可以根据需要将电路板发送给我们、然后进行焊接。 此外、为何选择性能好得多的 ADC32RF45器件而不是 ADC32RF55器件？ 谢谢、Chase

  • 5 个月前
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• RE: [参考译文] ADC32RF55EVM：电路板的输入电压范围

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的宣亚： ADC 的模拟输入满量程范围为1.1Vpp DIFF 或1.35Vpp DIFF、具体取决于是否使用均值计算模式。 请参阅数据表的第8页。 www.ti.com/.../adc32rf55.pdf 此致、 Rob

  • 7 个月前
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• [参考译文] TSW14J58EVM：推荐用于 ADC32RF55EVM 的 FPGA 样片设计

  

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  Other Parts Discussed in Thread: ADC32RF55 , TI-JESD204-IP 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1367749/tsw14j58evm-recommended-fpga-sample-design…

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  • 8 个月前
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• RE: [参考译文] ADC32RF55：JESD204B 的 M 数

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的敬圣： 不处于旁路模式。 仅通过降低采样率或抽取来实现。 蔡斯

  • 1 年多前
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• RE: [参考译文] ADC32RF55：误码率的含义

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的敬圣： 正确、CER 指"错误"代码的概率。 如果 CER 显示10^-15 (如本器件)、则 每个样本上出现坏代码的概率为1/1015。 因此、预计每 1015个 样本只能看到1个坏代码、3GSPS 时、每333秒(10^15 /(3*10^9)产生一个坏代码。 这大约是每92.5小时一次、即3.85天的连续运行时间。 此致、Chase

  • 1 年多前
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