请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 Kagawa-San、您好!
Q-1我们无法估算这些因素、也无法假设这些测量故障是由 IC 造成的。 这些也可能与系统相关、即 IC 外部的其他组件发生故障。
对于我之前提到的所有其他问题、这要求进行系统故障分析、并评估每个 IC 块作为给定系统的一部分。
请与您当地的 TI 代表(当地的 TI 办事处)合作、以获得更详细的支持。
此致、
维克托
Other Parts Discussed in Thread: BQ76PL536EVM-3 , BQ76PL536A-Q1 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1059180/bq76pl536a-q1-only-read-first…