搜索提示
找到 56 个结果 查看 问题 帖子 排序依据
    Answered

  • [参考译文] DAC3174：IO测试模式

    已解决
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/646553/dac3174-io-test-pattern 部件号： DAC3174 您好， 当我运行IO测试模式时，我应该会在寄存器0x04处看到结果。 在数据表中，解释为： "这些位的值可判断输入字中的哪个位在IO测试模式比较过程中失败…
    • Answered

  • RE: [参考译文] DAC3174：使用Altera Arria10 SoC评估板的测试计划

    已解决
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好，George， 我们有适配器，但它无法顺畅地连接到DAC3174板。 我仔细观察了DAC 3174和适配器的两个连接器， 连接器的塑料部分是不同的。 似乎是，即使塑料完全适合，针脚也不能很好地连接或完全连接。 两个插座的图片，第一个-适配器，第二个- DAC3174板。 对此可以做些什么？ 此致， Timur Askerov
    • Answered

  • RE: [参考译文] DAC3174：更高频率下的DAC 3174问题

    已解决
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好， 然后，您可能需要使用模式验证功能来验证数字数据是否从FPGA无 误进入DAC。 请参阅附件，了解 我在工作台上设置此功能时所做的PPT。 实际上，设备中有8个寄存器，每个寄存器都具有一个采样模式。 您可以接受默认值，也可以根据需要将自己的模式值写入这些寄存器。 然后，您的FPGA将这8个样本的重复模式连续地发送到DAC。 启用验证器后，将对来自8个样品中每个样品FPGA的每个数据位进行模式匹配…
    • Answered

  • RE: [参考译文] DAC3174：最小采样率频率和4 *带控制相时钟的超额采样

    已解决
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好， 感谢您的反馈。 即使我使用的是DAC3174，我的应用程序中也有一种操作模式，即我只使用一个输出/第二个输出实际上与第一个DAC相同或互补。 在这种情况下，我可以筛选任何混迭频谱。 我当时在考虑通过 四次采样和过滤来实现额外比特性能是否会带来转换增益。 正如你所指出的，这不是一种经过试验的操作模式，但进行一场游戏，看看是否可以进行，以及是否可能获得任何好处，似乎没有什么坏处…

  • 单片DAC3174的SYNC驱动

    Other Parts Discussed in Thread: DAC3174 看了DAC3174的datasheet，对芯片有了比较好的理解，但是对于SYNCP/N的作用和如何被FPGA驱动没有理解到位，只知道他是一个复位写FIFO指针和作为数据同步信号。但是如何驱动它呢，比如：但SYNCP第一次从0跳变为1后，它复位了写FIFO指针，那接下来如果SYNCP保持高电平的话，他就一直复位FIFO指针，这样不对吧？如果他变为低电平且一直持续低电平的话，它如何同步数据DATA呢？还望指导？公司打算采用了…
    • Answered

  • [参考译文] DAC3282：有关用于 Sin/Cos 信号再生的 DAC3282和类似双通道 DAC 的查询

    已解决
    Other Parts Discussed in Thread: DAC3282 , DAC3174 , DAC5672A 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1505518/dac3282-inquiry-regarding-dac3282-and…
    • Answered

  • [参考译文] DAC3151：未找到 DAC3151EVM 软件

    已解决
    Other Parts Discussed in Thread: DAC3174 , DAC3151 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/data-converters-group/data-converters/f/data-converters-forum/1419424/dac3151-dac3151evm-software-not-found 器件型号： DA…
    • Answered

  • RE: DAC3161应用IO TEST问题

    已解决
    感谢您的耐心等待，附件PPT它详细介绍了IO TEST功能设置DAC的步骤。另外链接了一个旧的E2E帖子，在那里我们讨论了如何让IO TEST正常工作。 PPT中的步骤已经测试过了，并且能够使用DAC3174的IO TEST 功能。这些说明也适用于DAC3161，因为它与DAC3174属于同一系设备 5658.DAC3174 Pattern Test Feature.pptx e2e.ti.com/.../616322
    • Answered

  • RE: [参考译文] DAC3161：如何使用 DAC3161的 IO 测试功能？

    已解决
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Amy、 我将提供一个 PowerPoint、介绍为 IO 测试功能设置 DAC 的步骤。 此外、我将链接一个旧的 E2E 帖子、我们在其中讨论了如何使 IO 测试正常工作。 我已经在 PowerPoint 中测试了这些步骤、并且能够使用 DAC3174的 IO 测试功能。 由于 DAC3161与 DAC3174属于同一器件系列、这些说明也适用于 DAC3161。 …
    • Answered

  • [参考译文] TRF372017：高频时出现杂散。

    已解决
    Other Parts Discussed in Thread: TRF372017 , DAC3174 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/rf-microwave-group/rf-microwave/f/rf-microwave-forum/952216/trf372017-spurious-is-occurring-at-high-frequencies 器件型号…

未找到您搜索的内容？发布一个新问题吧。