Other Parts Discussed in Thread: LM5175 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/566895/lm5175-lm5175-hiccup-mode-protection-vs-average-output…
Other Parts Discussed in Thread: LM5175 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/753328/lm5175-output-noise 器件型号: LM5175 您好!
我们使用的是 LM5175、可以看到输出端的噪声…
Other Parts Discussed in Thread: LM5175 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/772241/lm5175-the-circuit-does-not-power-up-correctly 器件型号: L…
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Orfeo、
感谢您的更新。 您所做的是创建死区时间的正确方法:减慢电阻器的导通速度、并加快通过二极管的关断速度。
为了确保不再发生击穿、请监控高侧和低侧 FET 的 Vgs、并查看两个 FET 之间至少20ns~30ns 的死区时间、在 FET 的 Vth 电平上测量。 请避免死区时间过长。
我们建议在并联 FET 之前添加1欧姆左右的栅极电阻器。 因此、在这种情况下…