• [FAQ] [参考译文] [FAQ]如何通过低侧电流分流测量来提高 SiC 或 GaN 开关的功能安全性、从而更快地检测过流故障？

  

  admin

  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1256612/faq-how-do-i-detect-over-current-fault-more-quickly-with-low-side-current-shunt-measurement-for-the-function…

  • 2 年多前
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Answered

• RE: TLV170: 表述问题

  

  Kailyn Chen

  已解决

  您好，这是英文版原版的介绍，可以看到零点频率大于电路带宽，是满足要求的。中文版翻译错了，感谢您的指正。 另外，我把英文版的附上。 Analog Engineer's Circuit Cookbooks.pdf

  • 2 年多前
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