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找到 101 个结果 查看 问题 帖子 排序依据

  • RE: [参考译文] CCS/TMS570LS1227：测试 TMS570LS1227上的 ESM 引脚

    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Maurizio、 您需要查看： www.ti.com/.../SAFETI_DIAG_LIB 在安装目录 docs 文件夹 SafeTIDiagnosticLibrary-User 的 Guide-v2.3.0.ch 中有一个包含体面文档的.CHM 文件 在此文件中、您可以找到支持安全手册中列出的 ESM 要求的测试列表。 其中大多数是故障注入 API。…
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  • [参考译文] Hercules DSPLIB：TMS570安全手册/支持包

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/723130/hercules-dsplib-tms570-safety-manual-support…
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  • RE: [参考译文] TPS65381A-Q1：适用于 MCU 接口的 HALCoGen 或其他软件驱动程序资源。

    已解决
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Allen、 TMS570/Hercules MCU 团队提供 TPS65381x-Q1驱动程序作为其支持的一部分、如果您对驱动程序本身有进一步的疑问、最好在 RM48 Hercules 论坛上发帖。 TPS65381A-Q1和 TPS65381-Q1在功能上是等效的、因此 TPS65381-Q1驱动器可与 TPS65381A-Q1器件配合使用。 这些驱动程序是 SafeTI…

  • RE: 硬件诊断与软件诊断

    在ISO26262或是IEC61508关于processor的安全检测章节里面规定了，针对于Processor哪些内部的功能模块需要做什么样的安全检测。举个例子说，针对于电源模块，针对于不同的安全等级要求，在需要你的系统有外围的输入电源电压检测电路之外，还有可能会要求你的芯片内部有供电的电压检测包括过压或是欠压，同时有相应的机制来保证Processor检测到电源有问题时，做出什么样的反应。是重启，还是一直保持reset状态。 因为我们提供的是芯片内部的安全检测机制，所以针对电源模块，我们首选规定强制的检测手段是芯片内部的电源检测模块…
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  • RE: PMM的PSCON lockstep怎样用软件实现？

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    Hi ron, 不好意思，我手上暂时还没有关于PSCON的测试程序，不过我们官网上面有一个SafeTI Diagnostic Library，你可以去下载，里面有关于PSCON检测的API函数，同时也有一些帮助文档。下载链接如下： http://www.ti.com/tool/safeti_diag_lib 希望能对你有所帮助。 Ken
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  • RE: [参考译文] TMS570LC4357：SL_SelfTest_STC (STC1_COMPARE_SELFCHECK、true、&amp；stcSelfTestConfig)

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好 Rabie、 您必须将 SafeTI 诊断库更新到版本2.4.0。 它与2.3.1兼容、无需更改应用软件。 原因： 1) 1)理想情况下、SL_Selftest_STC 不会返回、因为一旦测试在 CPU 空闲"WFI"后启动、CPU 复位是完成测试后通过 STC 或外部复位恢复的唯一方法。 2) 2)由于 WFI 指令(_sl_Kickoff_…
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  • RE: [参考译文] TPS65381-Q1：需要 TPS65381 + TMS570的参考原理图

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好 Erik、 TI 参考设计 http://www.ti.com/tool/TIDA-00548 包含这两个器件、它使用直流/直流转换器作为内核电源、而不是使用具有外部 FET 的标准 VDD1 LDO 控制器、同时使用 TPS65381A-Q1的 VDD1_SENSE 来监控内核电压轨。 采用 TMS570且需要更少内核电流的较旧设计使用 LDO 控制器、该控制器可从 …
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  • RE: [参考译文] 故障注入到&quot；内存 Arrey&quot；和&quot；SRAM 阵列&quot；

    已解决
    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好 Arriy、 这有点是一个开放式问题、因为可以考虑许多类型的误差。 如果有具体问题、请告诉我、但最常见的是 SRAM 中的 ECC 错误或外设存储器中的奇偶校验错误。 您可以在 SafeTI 诊断库中找到这些类型的功能测试程序、该诊断库可从 www.ti.com/.../SAFETI_DIAG_LIB 免费下载和使用 。 讨论中的大多数诊断程序都包含在这个诊断代码集中、此诊断代码可在…
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  • [参考译文] 解决方法 SPNA215A.pdf 中的 Hercules _SW-6124会在后续运行中导致故障

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    Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers-forum/867279…
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  • RE: [参考译文] TMS570LS1224：功能安全测试建议

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Yuan、 为了在上电之前进行电路检查、需要检查从 nEEOR 到继电器的信号是否处于良好状态。 客户能否从晶体管为 nERROR 提供低电压。 这是可以的吗？ 还是客户可以从寄存器更改 nEEOR？ >>是的、可以使用 ESM 中的"错误强制模式"将 nERROR 驱动为启动序列的一部分。 请参阅 TRM (spnu515c)第443页的第12.2.3节。 …

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