E2E™ 设计支持
搜索
用户
站点
搜索
用户
E2E™ 中文设计支持 >
论坛
放大器
API 解答
音频
时钟和计时
数据转换器
DLP® 产品
接口
隔离
逻辑
微控制器
电机驱动器
处理器
电源管理
射频与微波
传感器
站点支持
开关与多路复用器
工具
无线连接
参考译文
存档组
存档论坛
技术文章
模拟
汽车
DLP® 技术
嵌入式处理
工业
电源管理
TI 培训
快速入门
English
更多
取消
搜索提示
找到 65 个结果
查看 问题
帖子
排序依据
相关性
按时间顺序由远及近
按时间顺序由近及远
RE: [参考译文] TMS570LC4357:Cortex 5F 微控制器初始化
admin
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好,Deric, 您是否无法将上述任何项目导入 CCS? 以下链接提供了最新的2.4.0
SAFETI_DIAG_LIB
驱动程序或库|德州仪器 TI.com -- 谢谢、此致、 Jagadish。
1 年多前
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)(Read Only)
Answered
RE: [参考译文] TMS570LC4357:EFuse 控制器自检位置
admin
已解决
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的 Mathew: 电子保险丝用于在上电复位(nPORRST)失效后配置器件。 作为上电复位序列的一部分、eFuse 值被读取并载入内部寄存器。 这称为 eFuse 自动载入。 电子保险丝值通过单位纠错、双位错误检测(SECDED)代码进行保护。 这些保险丝在器件的初始出厂测试期间进行编程。 电子保险丝控制器被设计成一旦器件被封装、电子保险丝的状态就不能被改变。 对于安全关键型系统…
1 年多前
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)(Read Only)
Answered
RE: [参考译文] TMS570LC4357:在 HalCoGen 中设置 PBIST
admin
已解决
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好 Srinivasa、 HALCoGen 不会为 TMS570LC43x 器件生成 PBIST 自检测试代码。 请使用安全诊断库、该库为 PBIST 测试提供 API。 https://www.ti.com/tool/
SAFETI_DIAG_LIB
?keyMatch=SAFETY%20DIAGNOSTICS%20LIBRARY
1 年多前
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)(Read Only)
Answered
RE: [参考译文] TMS570LS3137:TMS570LS3137芯片的 ECC 功能是否有例程?
admin
已解决
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 下载安全诊断库的链接: https://www.ti.com/tool/
SAFETI_DIAG_LIB
HALCOGen 链接: https://www.ti.com/tool/HALCOGEN?keyMatch=HALCOGEN Uniflash 链接: https://www.ti.com/tool/UNIFLASH?keyMatch=UNIFLASH
1 年多前
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)(Read Only)
RE: [参考译文] TMS570LC4357:PBIST 测试失败
admin
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好 Srinivasa、 强烈建议将安全诊断库(SDL)用于安全诊断测试。 https://www.ti.com/tool/
SAFETI_DIAG_LIB
?keyMatch=SAFETY%20DIAGNOOSTIC%20LIBRARY SL_SelfTest_PBIST (...)
1 年多前
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)(Read Only)
RE: TMS570LS3137: 请问对于TMS570LS3137芯片的ECC功能有相关例程吗?
Ben Qin
下面是安全诊断库的链接: https://www.ti.com/tool/
SAFETI_DIAG_LIB
HALCOGen 链接: https://www.ti.com/tool/HALCOGEN?keyMatch=HALCOGEN Uniflash 链接: https://www.ti.com/tool/UNIFLASH?keyMatch=UNIFLASH
1 年多前
其他微控制器
其他微控制器论坛
Answered
RE: [参考译文] TMS570LC4357:复位诊断 RST8 ";复位" 的软件测试未明确定义
admin
已解决
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的 Andrew: 它来自"SafeTI 诊断库 Hercules 处理器软件安全手册(SPNU592A)" 您可以从
SAFETI_DIAG_LIB
驱动程序或库|德州仪器 TI.com 安装安全的 TI 诊断库 安装后、您可以在以下路径中找到该文档: "...\SafeTI 诊断库\2.4.0\docs" -- 谢谢、此致、 Jagadish…
1 年多前
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)(Read Only)
Answered
RE: [参考译文] TMS570LC4357:在 PBIST 控制器的 halcogen 工具中进行配置、以便在所有 RAM 组上运行自检
admin
已解决
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好 Srinivasa、 您可以在以下路径中安装 SafeTI 诊断库
SAFETI_DIAG_LIB
驱动程序或库|德州仪器 TI.com 在此库中、您可以找到一个名为"sl_selftest.c"的文件、此文件包含不同的诊断函数例程。 在此文件中、函数"sl_SelfTest_PBIST"执行 PBIST、在这里、通过传递不同的 RAM 组地址…
1 年多前
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)(Read Only)
Answered
RE: [参考译文] TMS570LC4357:闪存驱动程序初始化期间出现 Fapi_Error_OtpChecksumMismatch 错误
admin
已解决
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 请参阅由 HALCOGen 生成的系统初始化、寄存器初始化和堆栈初始化代码: e2e.ti.com/.../1680.HL_5F00_system.ce2e.ti.com/.../HL_5F00_sys_5F00_core.asm HAL 生成的启动文件: e2e.ti.com/.../7484.HL_5F00_sys_5F00_startup.c 如果要使用功能功能(LBIST…
1 年多前
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)(Read Only)
Answered
RE: [参考译文] TMS570LS1227:TMS570LS1227 ADC 自检
admin
已解决
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好 Neha Gawade 、 我不知道您是否有权访问我们的安全库
SAFETI_DIAG_LIB
驱动程序或库|德州仪器 TI.com 如果您可以访问这些库、则可以下载它们并使用它们。 在这些库中、我们有一个用于测试 ADC 自检模式的演示、该演示出现在中 "safety_library"文件夹->"sl_selfTest.c"文件->"sl_SelfTest_ADC"函数…
1 年多前
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)
基于 Arm 的微控制器(参考译文帖)(Read Only)
<
>
未找到您搜索的内容?发布一个新问题吧。
发布新问题