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  • [参考译文] SN54SC2T74-SEP：单粒子翻转测试

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1517971/sn54sc2t74-sep-single-event-upset-testing 器件型号： SN54SC2T74-SEP 工具/软件： 尊敬的团队： 我们通常对航天级器件进行 SEU 测试。 对于飞机应用、是否有考虑 SEU 事件的合理高度阈值…
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  • [参考译文] SN54SC2T74-SEP：建模文件和输出电流

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1508617/sn54sc2t74-sep-modeling-files-and-output-current 器件型号： SN54SC2T74-SEP 工具/软件： 尊敬的 TI 团队： 我们对 SN54SC2T74MPWTSEP 有一些问题。 您能帮我回答以下问题吗…
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  • [参考译文] SN54SC4T00-SEP：SN54SC4T00-SEP 单粒子瞬态辐射性能

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    Other Parts Discussed in Thread: SN54SC4T125-SEP , SN54SC4T00-SEP , SN54SC2T74-SEP 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/logic-group/logic/f/logic-forum/1588022/sn54sc4t00-sep-sn54sc4t00-sep-single-event-transient…
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  • RE: [参考译文] SN54LVTH574-SP：单粒子效应敏感性或 ELDRS

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Walter、 我们大多数器件上都没有辐射测试数据。 我们以-SEP 结尾的较新器件将具有辐射测试数据、请参阅此处： SN54SC2T74-SEP 数据表、产品信息和支持|德州仪器 TI.com 。 BiCMOS 部分仍然易受 ELDRS 影响。 此致！ Malcolm
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  • [参考译文] SN74HCS74：有关如何在所选 D 型触发器配备了&quot；initial－q reset－quot；或&quot；initial－q Clear&quot；特性时快速查找的建议

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  • RE: [参考译文] SN54LVTH574-SP：防辐射？

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 Uriel、您好！ 您知道特定的辐射需求吗？ 例如、辐射是否具有足够的"耐辐射"能力、或者它是否需要具有"耐辐射"能力 如果器件需要耐辐射、我们在这方面没有很多选择。 根据 此处的 SN54AC00-SP 报告、我们"AC"系列中的任何 产品均被视为耐辐射。 但是、AC 系列只有一个双通道 DFF： https://www…

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