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  • RE: [参考译文] DLPNIRNANOEVM：DLPNIRNANOEVM

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的 Uma： 欢迎访问 DLP 论坛、感谢您关注 DLP 技术。 DLPNIR Nano EVM 参考设计中提供了请求的 Zemax 文件。 https://www.ti.com/tool/TIDA-00554 请查看标题为"TIDA-0054 CAD 文件(光学机械)"的设计文件 此致、 Vivek
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  • RE: [参考译文] TIDA-00554：TIDA-00554

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 布拉格尔达、 欢迎访问 E2E 论坛、感谢您关注我们的 DLP 技术。 如果您想使用 DLP 设计光谱仪、我们建议您参考此处链接的参考设计： https://www.ti.com/tool/TIDA-00554 这将为您提供原理图和图纸、有助于将我们的电子产品实施到定制板中。 您还可以购买 EVM 作为评估芯片组本身的方法。 但愿这对您有所帮助。 此致、 Philippe…
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  • RE: [参考译文] DLPNIRNANOEVM：DLPNIRNANOEVM

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好 Paul、 感谢您的耐心等待。 要使用光纤、您需要卸下 EVM 的照明头并将其更换为光纤头。 TI 不销售光纤头。 您必须进行定制构建、参考设计 中提供了此标题 https://www.ti.com/tool/TIDA-00554 文件已翻字："TIDA-00554 光纤输入照明模块 " 请注意、您还需要专用光纤。 请参阅应用手册"德州仪器 DLP…

  • RE: [参考译文] DLP2010NIR：USB 端口易碎的问题

    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好 Yorick、 TI 不提供 EVM 维修服务。 EVM 的保修期仅为90天。 请参阅 "8. 保证和相关补救措施。 8.1根据下面第8.2至8.4节和第9节的规定、TI 保证、在 TI 或 TI 授权经销商向"买方"交付"评估套件"之日起九十(90)天内、"评估套件"不会存在材料和工艺缺陷。 尽管有上述规定、如果出现以下情况、TI 将不对不合格的评估套件负责…
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  • RE: [参考译文] DLPNIRNANOEVM：DLPNIRNANOEVM

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 大家好、Moeen、 设计文档可在 EVM 的参考设计网站上的以下链接中找到 ：DLPNIRNANOEVM 技术文档。 但愿这对您有所帮助。 谢谢、 Chris
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  • RE: [参考译文] TIDA-00554：扩展带宽以覆盖高达2250 nm 的波长

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Michael、 光学组件的 Zmax 文件已发布在参考设计中。请随意使用。 您写道- 最后、关于二阶衍射的混叠问题(我认为您所指的是大于八倍频程的跨度)、公平地说、一旦光线到达衍射光栅、就无法防止这一问题吗？ (例如、为了提供750-1125nm 和1125-2250 nm 之外的光路、这些光路应是两条单独的滤波光路、并具有单独的衍射光栅。) 您的理解是正确的…
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  • RE: [参考译文] DLPNIRNANOEVM：关于 EVM 波长范围及其更改方法

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 萨达姆 更改仪器的波长范围需要重新设计核心光学器件和机械结构、如本应用手册最后第13节 中所述：http://www.ti.com/lit/dlpa062 此 EVM 的参考设计包括所有机械结构和光学(Zemax)设计文件、位于以下 位置：">"TIDA-00554">www.ti.com/.../TIDA-00554的"下载设计文件">"TIDA-00554 CAD 文件(Opto…

  • TIDA-00554 光谱开发模块Digital resolution参数设置和scan configurations选择

    Other Parts Discussed in Thread: TIDA-00554 你好，请问TIDA-00554 光谱开发模块在测量固体粉末时，Digital resolution参数设置如何选择最合适的值？用户手册中提到，Digital resolution的值至少采用大于2倍的过采样率进行计算： 【In general, set this resolution to oversample at least twice of the desired full width half maximum…
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  • RE: [参考译文] DLPNIRNANOEVM：减少测量时间/系统集成

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Simon、 您可以在 http://www.ti.com/tool/TIDA-00554的"设计文件"下找到可用的 CAD 文件 。 我们必须研究我们提供的与测量和传输时间相关的信息。 谢谢、 Kyle
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  • RE: [参考译文] DLPNIRNANOEVM：减少测量时间/系统集成

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Simon、 NIRscan Nano 设计的光学入口是狭缝。 然后、此狭缝被分散(波长被分离)并聚焦到 DMD 上。 这种类型的光纤可以提供更好的耦合效率的原因在于、线性部件可以有效地填充狭缝、而圆部分通常更好地耦合以收集样品端的光学器件。 请注意、EVM 附带反射采样头、其中包括照亮样本的灯、然后透镜将样本反射重新聚焦到狭缝上。 您将需要某种方法将光纤安装到光源引擎上…

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