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  • [参考译文] BQ76200：DSG MOSFET 的关断时间大于预期

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    Other Parts Discussed in Thread: BQ76200 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/946474/bq76200-turn-off-time-of-dsg-mosfet-is-greater-than…

  • RE: [参考译文] BQ25175：似乎卡在预充电模式？

    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Bill、 感谢您的答复。 有趣的是、如果我将工作台电源推至6V、那么我确实看到正在消耗大约1.386W 的功率、因此1.386/3.918 (电池上)= 354 mA…… 约12%的400 mA 害羞。 为电池提供的功率 随电压下降是否正常？ 我希望该器件在5V 电压下能够正常工作、而另一个 TI 器件 BQ51003YFPR 将提供此电压... 我仅在工作台设置为5V…
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  • RE: [参考译文] AM625：SK-AM62B-P1的 DDR 配置

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Bin、 这是来自 U-boot 的日志。 SDK 版本为10.00。 U-Boot SPL 2024.04-ti-gfda88f8bcea3 (Jul 26 2024 - 11:00:12 +0000) SYSFW ABI: 4.0 (firmware rev 0x000a '10.0.8--v10.00.08 (Fiery Fox)') video_reserve…
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  • RE: TIDM-1000: 关于TIDM-1000采样触发点配置的问题

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    在这段程序中，数字6.0是用来计算采样触发点（sampling trigger point）的值的。这个值的作用是确定电流采样开始的时间点，因为电源控制器需要在恰当的时间进行电流采样，以便更准确地计算输出功率和反馈控制。在TIDM-1000方案中，电流传感器数量为3，因此这里使用数字6.0，表示每个相位需要2次采样（正半周和负半周），总共需要6个采样点。代码中实际配置了6个采样通道。 VIENNA_ADC_CONV_TIME宏定义代表的是ADC转换时间，它的值是根据采样模块的时钟频率、采样分辨率以及ADC转换时间计算得到的…
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  • [参考译文] LM7800：设计帮助

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1206540/lm7800-design-help 器件型号： LM7800 您好！ 你好。 我有一个关于78xx 系列稳压器的问题。 在我的应用中、我们将使用 线圈电阻约为400欧姆的机械继电器…
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  • RE: [参考译文] UC3525A：使用 UC3525推挽式转换器并采用全桥整流输出时遇到一些问题

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 Hihong Huang, 推挽式转换器的输出电压改变后出现的新问题 当 图12中的 R96和 R97的总和从1K 欧姆降低到820欧姆、而其他参数保持不变时、MOS 晶体管(Q10、Q13、Q14、Q15)将损坏。 为什么会这样呢？ 当输出电压 Vo 从超过400伏上升到超过500伏时、就会出现这个问题。 负载是2K。的电阻。推挽的 PWM 频率为15K。。当输出电压较低时…
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  • RE: [参考译文] UC3525A：使用 UC3525推挽式转换器并采用全桥整流输出时遇到一些问题

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 Hihong Huang, 推挽式转换器的输出电压改变后出现的新问题 当 图12中的 R96和 R97的总和从1K 欧姆降低到820欧姆、而其他参数保持不变时、MOS 晶体管(Q10、Q13、Q14、Q15)将损坏。 为什么会这样呢？ 当输出电压 Vo 从超过400伏上升到超过500伏时、就会出现这个问题。 负载是2K。的电阻。推挽的 PWM 频率为15K。。当输出电压较低时…
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  • RE: [参考译文] UCD3138 LLCHBFirmware-1.2 ADC 规模设计

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好！ 这些刻度在 system_define.h 中的第230行和234行中定义： #define ADC12_IOUT_Scaler_尾 数(29947) #define ADC12_VIN_Scaler_尾 数(32380) 以下是这些值的来源： Iout 刻度=1Mohm*35.7kohm/1kohm=0.001*35.7/1. 29947 =(((Iout…

  • RE: [参考译文] TDA4VM：SR2.0加载符号 lateapp2程序块问题查询

    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的 Wang： 我使用 SR2.0 HS-SE 上的 SBL 在 c7x 上运行了 UDMA 测试应用、它 对我来说很有效。 R5日志： SBL Revision: 01.00.10.01 (Jun 12 2024 - 10:59:24) TIFS ver: 9.1.2--v09.01.02 (Kool Koala) Sciserver Testapp Built On…
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  • RE: [参考译文] TLK2711-SP：内置 BERT 功能的 BER 阈值

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好！ 最小 BER = 1 E-12数据测试迭代是在至少传输1E+12位后观察到至少一个误差的迭代。 因此、单个1E-12迭代的时间等于1E+12除以数据速率。 如果数据速率为2.5Gbps、则 t (1E-12)= 400秒。 然而、为了获得合理的置信度、需要三次1E-12测试迭代、因此 TI 建议数据速率为2.5Gbps 时的时间为3 * 400s 或1200秒(20分钟…

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