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  • [参考译文] TMS570LS3137：TMS570LS3137TMEP 的 SEU 分析/统计

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    Other Parts Discussed in Thread: TMS570LS3137 , TMS570LC4357-SEP 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm-based-microcontrollers…
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  • [参考译文] TMS570LC4357-EP：辐射测试

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    Other Parts Discussed in Thread: TMS570LC4357 , LAUNCHXL2-570LC43 , TMS570LC4357-SEP 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/microcontrollers/arm-based-microcontrollers-group/arm-based-microcontrollers/f/arm…
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  • RE: [参考译文] TMS570LS0432：N2HET 仿真 UART

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Sam、 对延迟的回复表示歉意、我休息了几天、因此没有机会再次处理此问题。 请参阅以下主题一次、这可能对使用 HET 的 SPI 仿真很有用： (+) TMS570LC4357-SEP：用于实现定制串行外设的高端计时器-基于 Arm 的微控制器-内部论坛-基于 Arm 的微控制器-内部- TI E2E 支持论坛 -- 此致、 Jagadish。
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  • RE: [参考译文] TMS570LC4357-TMS570：在设计中根据不断变化的环境调整 EP 封装

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Paul、 这些器件 引脚至引脚和软件 兼容。 这些器件的工作温度范围和辐射耐受水平只有不同。 (+) TMS570LC4357-TMS570LC4357-SEP EP：TMS570LC4357-SEP 的引脚是否与 TMS5704357BZWTQQ1相同？ -基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛 -- 谢谢。此致、 Jagadish…
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  • RE: [参考译文] TMS570LC4357：TMDSEMU200-U 仿真器错误233

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Sam、 我对迟来的回应表示歉意、同时我还陷入了其他问题的困境。 HDK 电路板支持 TMDSEMU200调试器连接。 不需要任何额外的过程、当我们连接外部调试器时、内部调试器将自动断开连接。 有关外部调试器连接、请参阅以下主题：引脚定义下的： (+) TMS570LC4357-SEP：如果 PCB 无法访问 DAP 端口、则对微控制器进行编程-基于 Arm 的微控制器论坛…
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  • RE: [参考译文] TMS570LC4357-GWTEP：TMS5704357BZWTQQ1和 EP 具有相同的内部裸片？ 修订版本 B？

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Paul、 除了温度范围和辐射耐受水平外、这些器件之间不会有任何差异。 是的、这些器件是引脚对引脚和软件兼容的。 (+) TMS570LC4357-TMS570LC4357-SEP EP：TMS570LC4357-SEP 的引脚是否与 TMS5704357BZWTQQ1相同？ -基于 Arm 的微控制器论坛-基于 Arm 的微控制器- TI E2E 支持论坛 (+)…

  • RE: TMS570LS3137: 程序可以运行在片外的SDRAM吗？是通过EMIF通信？

    你好，抱歉这么晚才回复。请参阅以下有关 TMS570LC4357辐射数据的帖子： (+) TMS570LC4357: Radiation tolerance data & BSP questions - Arm-based microcontrollers forum - Arm-based microcontrollers - TI E2E support forums (+) TMS570LC4357-EP: TMS570LC4357-SEP Sepc. - Arm-based microcontrollers…
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  • RE: [参考译文] TMS570LS3137：如何检查 TMS570LS3137内的过压和过流

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、IBLEE： 控制器内部只有一个电压监测电路。 监控内核电源电压和 I/O 电压。 但是、如果您需要更多保护、则应该使用外部电压监视器。 示例 TPS65381A 您可以在下面的中找到该器件的参考设计： (+) TMS570LC4357-SEP：此 MCU 的航天级电源树-基于 Arm 的微控制器-内部论坛-基于 Arm 的微控制器-内部- TI E2E 支持…
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  • RE: [参考译文] TMS570LS3137：外部时钟源

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的 Hasan： 时钟源是内部还是外部称为 OSC 频率？ OSC 仅是外部晶体时钟。 该时钟将基于我们在 OSCIN 和 OSCOUT 之间连接的外部晶体生成。 如何在 TMS570LS3137 微控制器上启用或禁用内部或外部时钟源配置？ 根据数据表、外部时钟 1 和外部时钟 2 支持 DCC。 PLL 将仅使用振荡器时钟、无法更改。 如果您想使用其他时钟（如外部时钟等…
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  • RE: [参考译文] TMS570LC4357：抗辐射数据与放大器；BSP 问题

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好！ 根据 TI 质量指南、不能为任何不符合航天应用要求的器件提供辐射测试数据。 这些器件具有一个针对航天 EP 的特殊代号("SEP")、表示适合在航天应用中使用。 我们只能提供 SEP 部件的辐射测试数据。 尽管如此、我们目前正在研究发布 TMS570LC4357 SEP 版本的可行性、并将在稍后提供更新。

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