Other Parts Discussed in Thread: TINA-TI 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/tools/simulation-hardware-system-design-tools-group/sim-hw-system-design/f/simulation-hardware-system-design-tools-forum/815268…
请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 您好、Kirill、
要解释规格与图上典型值的差异、请执行以下操作：
该图可能是使用一个器件完成的、被认为是"典型值"。2.7与2.5可能只是所获取的图与我们在所有器件上看到的典型值之间的器件变化。
就您看到的温度变化而言、我预计电流 ISS 会降低温度、导致软启动增加。
我们有一些有关该电流随温度变化的数据、我们确实看到 ISS 随温度升高而降低。…
Other Parts Discussed in Thread: TPS50601A-SP 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/789480/tps50601-sp-schematic-issue 器件型号： TPS50601-SP 主题中讨论的其他器件…
Other Parts Discussed in Thread: TPS50601-SP , TPS50601A-SP 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/789533/tps50601a-sp-enable-pin-threshold…
Other Parts Discussed in Thread: TPS50601-SP , TPS62065 , TPS54610 我是一名IC测试厂的工程师，在测试DC-DC芯片时，有客户要求是闭环测试。即控制器芯片加外围电感，电容等构成完整的闭环进行测试。测试时，当负载较大时电路容易烧毁或者电路功能异常。分析是插座的寄生ESL和ESR引起的，有没有做过类似产品测试的大牛，行业内DC-DC芯片都是闭环测试的吗。个人感觉闭环测试的方法是有问题的。
