• RE: [参考译文] UCC21750QDWEVM-025：UCC21750DW

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的 Tohfa： 如果您可以共享请求的信号和放大的波形、这将帮助我们了解故障场景并提供相应的支持。 期待您更新后的波形 谢谢 SASI

  • 3 个月前
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• RE: [参考译文] UCC21750QDWEVM-025：短路测试期间的评估板和 MOSFET 损坏

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的 Raymond： 感谢您提供简化的方框图设置图像。 di/dt 可能以更快的速率增加、具体取决于开关闭合的速度。 您能否控制第二个开关的关闭速度。 如果没有、您是否可以尝试通过 RC 缓冲器来减慢开关速度。 需要考虑的另一点是更大限度地减小 高电流路径中的总电感、从而更大限度地减小过冲电压。 希望它有所帮助。

  • 11 个月前
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• [参考译文] UCC21750QDWEVM-025:芯片被怀疑是假的，他们的丝网与其他人不同,请帮助鉴别假的东西或真的东西?

  

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  Other Parts Discussed in Thread: UCC21750 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1321547/ucc21750qdwevm-025-the-chips-are-suspected-to-be-fake…

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• RE: [参考译文] UCC21756-Q1：如何修改 UCC21750 EVM 以适应 UCC21756

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 大家好、我正在查看 TI 推荐的 EVM 板 UCC21750QDWEVM-025 当我登录 UCC21756网站 https://www.ti.com/product/UCC21756-Q1时 在该文档内、用户手册介绍了 UCC21732。 21750的原理图和 BOM 列表中是否有版本？ 如果要测试 UCC21756、 我需要获取该 EVM 板 UCC21750QDWEVM…

  • 11 个月前
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• RE: [参考译文] UCC21750QDWEVM-025：UCC21750QDWEVM-025

  

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  请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的 Brody： 该结构的作用类似于恒定下拉电流源。 晶体管级设计存在于软关断块内部。 此致！ 普拉蒂克

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• RE: [参考译文] UCC21750QDWEVM-025：UCC21750QDWEVM-025

  

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• RE: [参考译文] UCC21750QDWEVM-025：UCC21750QDWEVM-025

  

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• RE: [参考译文] UCC21750QDWEVM-025：UCC21750QDWEVM-025

  

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• RE: [参考译文] UCC21750QDWEVM-025：UCC21750QDWEVM-025

  

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• UCC21750QDWEVM-025: UCC21750QDWEVM-025

  

  Beida Song

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  Part Number: UCC21750QDWEVM-025 Other Parts Discussed in Thread: UCC21750 , UCC21710 您好，我在使用UCC21750QDWEVM-025进行输入输出开关测试时，为什么需要将TP7与source极进行链接？ 对UCC21750进行OC功能测试时，为什么要将IN+ pin与EN pin链接在一起，能详细描述一下触发时序吗？UCC21750为什么不像UCC21710一样使用CS 触发短路？ 对UCC21750的OC功能进行测试…

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  • 1 年多前
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