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  • [参考译文] UCC14141-Q1：UCC14141-Q1：UCC14141-Q1电路设计相关问题。 (文献编号：PG)

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    Other Parts Discussed in Thread: UCC14141-Q1 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/tools/simulation-hardware-system-design-tools-group/sim-hw-system-design/f/simulation-hardware-system-design-tools-forum…
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  • [参考译文] TMAG5173-Q1：AFE 检查测试执行时间

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    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/sensors-group/sensors/f/sensors-forum/1493760/tmag5173-q1-afe-check-test-execution-time 器件型号： TMAG5173-Q1 工具与软件： 您好！ 我将 测试该传感器以进行 AFE 检查。 根据安全手册、执行时间为200us。 但我在那个时间得到了错误的结果…

  • RE: [参考译文] DRV3901-Q1：VDRV 问题

    请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 尊敬的 Keerthi： Unknown 说： 1)它是在电源丢失的情况下阻止电流从 VREG (储能电容器)流回 PVDD 1)不是 PVDD 和 VREG 之间的二极管、我询问 VREG 和 VDRV 之间的二极管。 Unknown 说： 2)取决于其 FDTI 2)如何确定 TWK_UP 是否足以满足客户应用的需求？ 3)我发现在安全手册说,它将只硬件触发器. 但硬件触发方法可以配置吗…

  • [参考译文] UA78M-Q1：封装模型不正确

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  • [参考译文] LP8863-Q1：中央控制屏幕为黑色、LP8863-Q1 BLMODE 读数为01

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  • [参考译文] OPA316-Q1：请告诉我需要执行哪些操作才能获得预期的输出

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    Other Parts Discussed in Thread: OPA316-Q1 , INA180-Q1 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1420435/opa316-q1-please-tell-me-what-needs-to-be-done-for-getting…
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  • [参考译文] DRA821U-Q1：DRA821U-Q1：询问有关适用于 PCIe 和以太网的 DRA821串行器/解串器配置(USXGMII/RGMII)的问题

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  • [参考译文] BQ25173-Q1：更高电流

    Other Parts Discussed in Thread: BQ25173 , BQ25173-Q1 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1492731/bq25173-q1-higher-current 器件型号： BQ25173-…
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  • [参考译文] TPS650332-Q1：不同封装的影响

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  • [参考译文] LM74930-Q1：即使存在500mA 电流负载、HGATE MOSFET 也会损坏

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    Other Parts Discussed in Thread: LM74930-Q1 请注意，本文内容源自机器翻译，可能存在语法或其它翻译错误，仅供参考。如需获取准确内容，请参阅链接中的英语原文或自行翻译。 https://e2e.ti.com/support/power-management-group/power-management/f/power-management-forum/1477580/lm74930-q1-hgate-mosfet-damaged-even-with-500ma…

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