我司在使用TL074IDR时，经常有IC烧坏现像。
放损坏特征：表面明显看到一个小坑，通电测量运放的输出接近正电源或负电源。
运放损坏概率：最近半年的统计数据显示0.3%。
运放的应用电路：变频器的电流经过HALL检测后经过运放(TL074)整定后送CPU处理，是成熟电路
想问一下TI：
1、该运放的产地都有哪些？多个产地封装出来的IC差别有多大？
2、出现这种问题，TI技术人员能不能与我司技术人员当面交流。
以上，请回复
我司在使用TL074IDR时，经常有IC烧坏现像。
放损坏特征：表面明显看到一个小坑，通电测量运放的输出接近正电源或负电源。
运放损坏概率：最近半年的统计数据显示0.3%。
运放的应用电路：变频器的电流经过HALL检测后经过运放(TL074)整定后送CPU处理，是成熟电路
想问一下TI：
1、该运放的产地都有哪些？多个产地封装出来的IC差别有多大？
2、出现这种问题，TI技术人员能不能与我司技术人员当面交流。
以上，请回复
