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DAC3161在应用中若要使用IO TEST该怎么用？我现在能输出正常波形，但温度变化过大后，可能会有FPGA和DAC数据接口时序不匹配问题。调整寄存器延时后又能恢复正常。所以想用DAC芯片内部的IO TEST功能实现接口时序先验证再工作。但无论怎么配置都无法正常使用该功能。
感谢您的耐心等待，附件PPT它详细介绍了IO TEST功能设置DAC的步骤。另外链接了一个旧的E2E帖子，在那里我们讨论了如何让IO TEST正常工作。
PPT中的步骤已经测试过了，并且能够使用DAC3174的IO TEST 功能。这些说明也适用于DAC3161，因为它与DAC3174属于同一系设备
5658.DAC3174 Pattern Test Feature.pptx
e2e.ti.com/.../616322
