1.AFE2256EVM有没有办法测试芯片的INL指标
2.是否可以通过更改源码来生成相应工程来测试INL指标
3.手册中INL指标是某一个环境的结果，是否有其他环境下的测试或仿真结果（不同scan time）
4.该芯片INL指标受哪些配置影响较大（input charge、scan time、LPF、STR、Csensor、CDS Timing、）
1.AFE2256EVM有没有办法测试芯片的INL指标
2.是否可以通过更改源码来生成相应工程来测试INL指标
3.手册中INL指标是某一个环境的结果，是否有其他环境下的测试或仿真结果（不同scan time）
4.该芯片INL指标受哪些配置影响较大（input charge、scan time、LPF、STR、Csensor、CDS Timing、）
