d 自己根据评估模块制作了1612的测试板，MCU使用的是STM32。程序调试能够读取到 转换的数据，只是数据尾部不稳定，于是想通过 读取寄存器内部的数据来检验收发程序，不过读取出来的数据与初始值不同，高8位数据 正确，低8位数据存在误差。不同寄存器地址读取的数据 误差都不一样，但有一个共同点：高8位数据是完全正确的。 怀疑是 SCLK （采用模拟IIC）设置有问题，翻阅手册对IIC时序的解释仅有2页，有没有LDC1612 IIC时序详细的介绍呢？ 从寄存器读取的数据 为什么会高8位正确，低8位就出现错误呢？ 求解答！
