SN74HC08: SN74HC08

您好，根据您的介绍，同样的电路，使用Diodes的HC08 没问题，但是使用TI的HC08温度升高导致芯片烧毁，是吗？

如果是这样的话，要对比下二者的电气参数，是否能直接替代。

另外，因为这款逻辑器件是一个与门电路，可以搭建个简易电路，先确认下我们的HC08功能是否异常？

其次，如果“与”逻辑验证下来是不正常的，同样也是失效，那确认下购货渠道，是通过TI的estore商城购买的还是其他贸易商？

您好是通过TI的estore商城购买的

那温度升高烧毁，是具体如何测试的？芯片的功能性测试吗，比如芯片是个“与门”逻辑器件，是否功能正常？

还是做的其他实验？ 

estore的订单号提供一下，如果确定是芯片的问题，我这边将转交给客服处理中心，解决芯片的售后问题。

您好我先让工程师重新测试一下   这个是2021年6月份买的  订单号需要找一下 

好的呢，建议先做“最简单的功能测试。 在供电电压范围内，给两个输入信号，比如两个都是高电平，看是否输出为高。

一个输入高电平，一个为低，看输出是否为低，从而确认”与“门逻辑是否正常。