This thread has been locked.

If you have a related question, please click the "Ask a related question" button in the top right corner. The newly created question will be automatically linked to this question.

[参考译文] TL074:有关 TL074CDR 的二极管模式测量结果(批次变化)的查询

Guru**** 2864540 points

Other Parts Discussed in Thread: TL074

请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1601574/tl074-inquiry-regarding-diode-mode-measurement-results-for-tl074cdr-lot-variation

器件型号: TL074

尊敬的 Texas Instruments 技术支持团队:

请在技术上澄清在 TL074CDR 运算放大器上观察到的二极管模式测量结果。

所述器件包含以下信息:

  • 器件型号:TL074CDR

  • 批号:5277617ML5

  • 生产日期代码:2515+5

在二极管测试模式下使用数字万用表测量该批次时、所有测量的引脚都会显示开环 (OL) 结果。 不过、对于我们在 2024 年购买的另一个 TL074CDR 批次、二极管模式测量始终显示约 0.77V。此外、将这些器件焊接到 PCB 上后、二极管模式测量在相同测试条件下的读数仍约为 0.7V。

两次测量均使用相同的万用表和相同的二极管测试方法执行。

我们恳请您的支持确认:

  1. 是否在二极管测试模式下使用万用表测量 TL074CDR 是有效且适当的方法。

  2. 同一器件型号的两个不同批次将显示明显不同的二极管模式读数 (OL 与~0.7V) 的可能技术原因。

  3. 您建议使用什么测量方法或测试程序来正确评估 TL074CDR 器件的输入/输出结行为。

您的指导将帮助我们更好地了解这种行为是否与内部设计差异、工艺差异、ESD 保护结构或测量限制有关。

非常感谢您的支持。 我们期待您的技术建议。

此致、
Do Thi my Trinh

  • 请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

    Hello Dao Thi My Trinh,

    TL074 经过了设计更新、详细信息可 在此 PCN 中找到此器件采用了一种新的工艺技术、您看到的差异是由于 ESD 结构更新而产生的。 更多有关这方面的信息、请参阅应用手册 “ESD 单元/运算放大器“的第 6 节。 更新的 TL07X 使用非传统 ESD 保护、请查看前面提到的应用手册的第 3 节和第 4 节对其进行进一步说明。

    当器件使用传统的二极管到电源保护机制时、在二极管测试模式下使用万用表是一种有效的方法。 但是、如果运算放大器使用非传统的 ESD 保护方法(例如电平触发保护方案)、则二极管测试模式下的万用表不足以测试 ESD 保护。  

    本应用手册的第 6 节 介绍了测试器件中 ESD 保护的一种方法。 将两个电源接地并在输入端插入小电流、然后测量相应的电压是表征运算放大器中 ESD 保护的一种方法。

    请注意、ESD 保护的变化不应在正常运行期间影响运算放大器、因为 ESD 单元仅在器件异常运行(例如电气过载)期间触发。

    此致、
    嘉莉