Other Parts Discussed in Thread: OPA858, TINA-TI
器件型号: OPA858
主题中讨论的其他器件: Tina-TI
您好:
我们目前正在评估 基于 OPA858 的 TIA 电路的输出噪声性能 。 在测量过程中、我们观察到了 测得的输出噪声频谱与从 TINA-TI 获得的噪声仿真结果不匹配 。 我们希望请您就可能的原因和建议的建模方法提供指导。
1.观察
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在随附的图中 实线表示测得的输出噪声 、而 虚线表示 TINA 仿真结果 。
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C1/C2/C3 对应于 1 pF /2 pF /3 pF 输入或负载电容条件 分别。
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观察到的主要差异:
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。 测得的噪声峰值出现的频率明显低于仿真值 (噪声曲线的总体左移)。
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。 测得的噪声水平略高于中高频率范围内的仿真 。
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2.测试和模拟条件
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受测器件: OPA858
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配置:跨阻放大器 (TIA)
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反馈分量:rf = 60k、cf = 0.1 pF
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设计负载输入电容器:~1–3 pF
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电源:低噪声 LDO
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我们仔细优化和审查了 PCB 布局和输入布线

3、输入电流噪声建模调查
在调试过程中、我们怀疑这一点 输入电流噪声及其与频率相关的行为可能无法在 TINA 噪声模型中完整表示 。
由于很难在 TINA 中构建一个理想的“无噪声电阻器“来独立注入电流噪声、因此我们在另一个仿真工具中执行了一个类似的实验:
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插入了一个与串联的小电阻器 非反相输入 大信号
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电路中的所有其他电阻器均配置为无噪声
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观察此电阻器上的噪声来估算输入电流噪声
但是、提取的电流噪声频谱与 OPA858 数据表中显示的趋势不完全匹配。
4.其他模拟尝试
我们在仿真中进一步引入了额外的输入电流噪声贡献。 所得到的输出噪声频谱如附图(紫色曲线)所示。
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。 总噪声幅度现在接近测量值
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但是、中仍然存在明显的不匹配 噪声峰值频率和中高频形状

5.问题
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在中 基于 OPA858 的 TIA 、可能导致的最常见原因是什么 测得的噪声峰值频率低于仿真预测的值频率 ?
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这更可能与有关 输入寄生电容、封装/ESD 电容或与频率相关的输入电流噪声机制 ?
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适用于 OPA858 的 TINA-TI 宏模型是否已包含 由输入端的电容耦合引起的高频输入电流噪声贡献 ?
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都有 建议的建模或仿真技术 (在 TINA 或其他工具中)、以便更好地关联高速 TIA 应用中仿真和测量的输出噪声频谱?
感谢您的支持和指导。













