[参考译文] TLE2064：TLE2064IDR 器件标识、PCN 和器件性能问题

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https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/1655592/tle2064-tle2064idr-part-marking-pcn-and-part-performance-question

部件号： TLE2064

公司的产品已使用 TLE2064ID 组件十多年、目前我们的供应商可能正在使用 TLE2064IDR。我们使用 TLE2064ID 元件作为施密特触发器/阈值比较器、具有输出钳位功能来控制 MOSFET 栅极。

今年、我们突然有 50 多个器件未能通过同样的标准测试。此编号不包括我们供应商未测试的材料的数量。故障已被隔离为不正确的 TLE2064IDR 输出。具体而言、所有未通过我们标准功能测试的材料都有以下器件标识：

TI 51CKJ6K

TLE2064I

我使用以下标记（以及其他标记）检查了其他较旧的材料和组件、这并不会导致我们的功能测试失败：

TI 38C0KDT

TLE2064I

您能否向我解释一下“51CKJ6K“和“38C0KDT“描绘的所有细节？对于我来说、了解围绕这个 TLE2064ID 组件引起的这种突然失效的根本原因非常重要

尽管 PCN#202311300041.1 规定“形状、拟合或功能没有变化“、但您是否认为 PCN 中对装配位置、装配工艺、芯片和晶圆所做的更改会影响输出偏移或输出级驱动漂移？我看到两个器件之间的电压变化为 400mV、我只能看到器件标识不同、最近对 PCN 进行了重大变化、同时我们注意到性能差异。

提前感谢您的答复

4 个月前

0 admin 4 个月前

TI__Guru**** 2979400 points

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“修订历史记录“（数据表的第 9 节）列出了大量更改…

0 admin 4 个月前

TI__Guru**** 2979400 points

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与 TLE2064I 相对应的数据表更改如下：

-宽带宽从 2MHz 更改为 1.1MHz

-电源电流从 290uA/通道更改为 120uA/通道

PCN 显示了 TLE2064I 的其他变更

0 admin 4 个月前

TI__Guru**** 2979400 points

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尊敬的 Langdon：

TLE2064 数据表中的修订历史记录有助于说明 PCN 之前和 PCN 之后材料之间的变化。

功能故障也称为电路内测试 (ICT) 故障、可能是运算放大器内部 ESD 结构更新所致。由于运算放大器的拓扑结构发生了变化、因此二极管结构的固有电阻也不同。这可能会导致系统级电路板测试中出现错误故障。大多数二极管遵循相同的通用 IV 曲线、硅二极管的正向偏置电压约为 0.7V。但是、所有二极管都有所不同、更新 ESD 单元可能会改变 IV 曲线特性、从而导致您看到的错误故障。

请注意、虽然器件的二极管结构可能会发生变化、但器件在正常运行期间的功能行为没有变化。保护结构仅在器件异常运行（例如 ESD 事件）期间触发。更多有关运算放大器中 ESD 单元的信息、请参阅此应用手册。

您能否提供有关测试设置和方法的更多详细信息、以帮助确定失败的根本原因？

此致、
嘉莉

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