线程中讨论的其他部件: LOG114, LOG114EVM
你好,支持团队
我的客户有以下问题:
我正在尝试设计一个涉及 LOG112的电路。
我想设置两个光电二极管来执行吸光度测量(如数据表图10所示),但我很难想象防护痕如何适合电路。
我可以查看的参考设计是否提供了一些关于如何为两个光电二极管整合防护跟踪的见解?
非常感谢。
此致,
尤基
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你好,支持团队
我的客户有以下问题:
我正在尝试设计一个涉及 LOG112的电路。
我想设置两个光电二极管来执行吸光度测量(如数据表图10所示),但我很难想象防护痕如何适合电路。
我可以查看的参考设计是否提供了一些关于如何为两个光电二极管整合防护跟踪的见解?
非常感谢。
此致,
尤基
您好,Qi,
不幸的是,目前没有专门针对 LOG112的印刷电路板参考设计。 LOG114是另一个日志比放大器,提供评估板(LOG114EVM)。 LOG114是一种速度较高的对数放大器,能够测量超过8年。 LOG114数据表第18页的图10显示了另一个测量两个匹配光电二极管吸光度的电路示例。
在主板布局中,理想情况下,在执行低输入电流测量时,会实施一个完整的保护环,其轨迹将每个输入二极管电流路径的完整信号路径包围到日志放大器的高阻抗输入,以防止泄漏。 防护环必须偏置在接近输入路径电压(在本例中为参考电压 COM 电压)的电位,并且通常使用低阻抗源驱动。 测量小电流时需要考虑的另一个因素是确保 PCB 板完全清洁,并且没有通量残留物和污染物。 在我们的评估板上,我们使用去离子水,超声波清洗装置15分钟,以确保彻底清除设备下方的通量。 但是,在 PCB 中,相应的助焊剂去除过程可能会因使用的助焊剂类型而异。
LOG114EVM 布局示例仅包含部分保护环,这很明显是由于折衷方案而导致的,目的是支持 EVM 上的不同电路。 有关安全环设计的详细信息,请查看此帖子讨论和随附文档的第3-41节:
LOG114EVM 用户指南 显示了图15-17上的布局图
谢谢大家,此致,
路易斯