LM6041用作极高增益(100Tohm)互阻抗放大器的输入IC。 不同IC的噪声特性不同,有些IC的噪声非常低,有些IC的瞬时跳转噪音较大。 需要知道这些设备是否会受到某种形式的爆米花噪音或类似的噪音影响。 可以使用长时间的噪声图解来显示这些效果。 如果需要从一个大批次中选择'良好' IC,那么这种测量的合适配置是什么?
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亲爱的Hooman:
该电路实际上是一个简单的互阻抗放大器,但在反馈路径中有一个RC零极补偿网络,用于反馈电阻内的固有反馈能力。 电阻器是Welwyn型3812玻璃封装(100Tohm)电阻器。 LMC6041是在低噪声+/-4.8V稳压电源上运行的(反相)输入IC,环路中还有一个额外的OP37同相(低通)放大器,其增益为+5。 测得的总带宽约为160MHz。 输入节点采用PTFE绝缘,6041通过与输入的空气绝缘反相引脚连接倒置安装。 我附上两幅基线输出图:B34_14MAR17NSE1.png显示长扫描,每个点的平均测量值为20次,间隔为14毫秒,显示非常低的噪声,开始时会突然增加到较高的水平。 较短间隔内的第二次扫描(B34_24MAR17NSE1.png)显示低噪声,但有两个较大偏差,这提示我询问爆米花噪音。 由于系统带宽受限,因此形状呈圆形。 获得此类高增益的一般论点是,在这些增益处,噪声主要是来自反馈电阻器的强生噪声,这随着根R的增加而增加,而信号增益随着R的增加而增加,所以S/N比随着根R的增加而提高 R直至受到IC偏置电流产生的激发噪声的限制,这可能是IC产生影响的地方。 附加第二个图解时有些困难,因此将单独发布该图解。