您好,
我们的客户发现,在短电流测试中,LM258 IC的所有通道2都无法正常工作。
但我从BU请求的样本可以通过短电流测试。
下面是顶部视图符号(在短电流测试中将失败)
下面是顶部视图符号(在短电流测试中不会失败)
这是测试条件
短路电流测试失败的IC:
当反馈电流盖C1=0和输出电流盖C2=100N时
所有IC都将正常工作,如下面的测试图所示。
但当我们将C1的电容从0调整到100N时。
我们发现,当我们将通道2短接至接地时
LM258最终损坏,该图如下图所示。
有人能解释一下为什么在我们的测试中会出现这种波形吗?
谢谢你
此致,
陈慧琳


