第三个问题是我已就同一主题张贴的前两个问题之外的问题。
1,焊接空隙(在电源板上)是否会导致过热和缩短使用寿命? 电源板上的最大空隙是否有过热可能导致寿命缩短的规格?
2.如果电源板设计不包括建议的直径为5,10 mil的通孔(即 如果只有一个或两个VIA通过电源垫到达地面或其他),是否会导致过热和缩短使用寿命?
3.其他问题:我们一直在测量外部封装温度。 我们认为可接受的封装温度的标称值为65C。 这是否可以接受?
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第三个问题是我已就同一主题张贴的前两个问题之外的问题。
1,焊接空隙(在电源板上)是否会导致过热和缩短使用寿命? 电源板上的最大空隙是否有过热可能导致寿命缩短的规格?
2.如果电源板设计不包括建议的直径为5,10 mil的通孔(即 如果只有一个或两个VIA通过电源垫到达地面或其他),是否会导致过热和缩短使用寿命?
3.其他问题:我们一直在测量外部封装温度。 我们认为可接受的封装温度的标称值为65C。 这是否可以接受?
您好,
关于THS3062DGN的另一个问题:
此封装在ESD敏感门上是否具有ESD保护?
我在组件的绝对最大额定值部分中没有看到任何有关ESD的规格。
我在阅读数据表时说:
ESD可能会损坏此集成电路。 德州仪器(TI)建议使用处理所有集成电路
适当的预防措施。 不遵守正确的操作和安装程序可能会导致损坏。
ESD损害范围从细微的性能下降到完全的设备故障。 精确集成电路可能更多
由于参数变化非常小,可能导致设备不符合其公布的规格,因此容易受到损坏。
损坏的ths3062dgn运算放大器的输出:输入信号具有尖锐的转换,但输出看起来像是ESD损坏的二极管的滚落。 就像它在驱动电容负载一样。