[参考译文] LMP2012：开环增益曲线

您好、Simon、

数据表中显示的 LMP2012曲线是美国国家半导体在它们成为 TI 的一部分之前得出的、因此除了随曲线提供的信息之外、我们没有任何有关原始设置的其他信息。

我确实会在图23 (和24)与图18至22中看到您对开环增益(AOL)与温度曲线的看法。 图23和24中的低频开环相位与其他相位相比有更多变化。 增益、频率和相位标度与其他标度相比扩展得更多、但这并不能解决低频时相位与频率响应之间的大部分差异。 当然、这两组 AOL 曲线之间存在一些电路和/或测量技术差异、导致了差异。

尽管在低频时观察到相位差、但不同图形之间的相位响应以及高频时产生的相位裕度是相当的、这是该 AOL 信息的真正重要方面。 当我查看所有图中单位增益交叉频率发生的位置时、即使负载电容为500pF、但仅在10pF 负载电容下向外增加到60度、看起来也至少有30度的相位裕度。 这将表明 LMP2012在与图中所示的电容负载一同工作时应保持单位增益稳定。  

此致、Thomas

精密放大器应用工程

尊敬的 Thomas：

我同意你的意见。 我们都以相同的方式分析曲线。
图18至22用于检查高频下的稳定性。

总之、在某些情况下、低频中似乎存在相位下降、我想知道导致这种现象的原因或方法。

您对所使用的测量技术有什么想法吗？
您知道这方面"Vo = 200mVpp"的含义吗？

对此，

Simon

您好、Sim2、

请记住、我们这里不是讨论标准运算放大器、而是斩波运算放大器。 开环相位与频率间的关系图显示了斩波基频的一些纹波、这种情况并不少见、此处为40kHz。

Kai

尊敬的 Kai：

您对此有什么阅读建议吗？

我不熟悉这种行为。

谢谢

我会在您回答后再次阅读数据表。 有些东西看起来很奇怪。

您会说斩波频率出现在相位曲线上。
相位曲线显示4kHz 下的下降；这确实可能对应于斩波频率。
另一方面、图5 (电压噪声与频率间的关系)显示了40kHz 时的峰值。
这很可能是斩波的结果。

但是... 4kHz 不是40kHz ...

奇怪的是不是吗？

您好、Sim2、

我说过对40kHz 的斩波基频进行四舍五入。 4kHz 仍呈圆形。 4MHz 或4MHz 不会是圆形。

Kai

此外、正如 Thomas 已经提到的、对于稳定性至关重要的是单位增益频率下的开环相位。 在低得多的频率下发生的情况并不起重要作用。

有源滤波器电路在低频时的相位裕度会大幅下降、电路仍然稳定。

Kai  

对我来说、十年的历史已经不复存在了。
这就是为什么我要问是否有任何关于斩波对相位的影响的文献。

我同意在较高频率下检查稳定性。
话虽如此，我认为不了解这一现象是不能令人满意的。 我希望您能向我解释一下。
(我没有发现对这一阶段的影响，也没有发现对这一阶段的议定书的影响。)

Simon、

LMP2012相位的下降很明显是由 AOL 第二极点引起的(见下面的红色箭头)、然后是 零点引起的相位恢复(见蓝色箭头)。  因此、第二个极点在 不到十倍频范围内被零点抵消、从而使相位返回90度；顺便说一下、第一个极点 是内部 米勒补偿稳定电路并设置放大器的总带宽的结果。

现在、在不向第二极点的原因披露任何专有信息的情况下、然后取消零、您只需知道 LMP2012实际上是一个自动置零运算放大器、而不是斩波稳定运算放大器(这两种拓扑都称为零漂移)。  两者之间的区别在于、LMP2012等自动置零放大器的工作原理是使用放大器的失调电压定期对电容器进行预充电、并将电容器重新与输入端子串联(导致第二极点)以消除其失调电压。  另一方面、斩波稳定放大器的工作方式是恒定切换第一级和第二级输入端子的极性、因此测量的失调电压会持续改变其极性(因此、取零值) 当输入信号保持同相时–请参阅以下两种不同的零漂移拓扑图：自动置零和斩波稳定放大器。

尊敬的 Marek：
感谢您的详细回答。

您对图24的分析非常清楚。

同样、在图21中、我在极点前发现了一个零点。 因此、相位会在返回90°之前上升。
(CLoad 提供的最后一个极点显而易见。)

那么、我回到我的第一个问题。 您是否知道图24与21之间相位行为为何如此不同？
也许秘密隐藏在标签"Vout = 200mVpp"后面？
在某些条件下、这是否是一种标称行为？

再次感谢您的帮助。