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[参考译文] INA302-Q1:数据表中的查询

Guru**** 1812430 points
请注意,本文内容源自机器翻译,可能存在语法或其它翻译错误,仅供参考。如需获取准确内容,请参阅链接中的英语原文或自行翻译。

https://e2e.ti.com/support/amplifiers-group/amplifiers/f/amplifiers-forum/980517/ina302-q1-queries-in-datasheet

器件型号:INA302-Q1

您好!

我们在 设计中使用 INA302A3QPWRQ1。 请对以下问题作出答复

1)偏移电压如何随温度变化? 失调电压是随温度升高还是反之? 提供的值为正值(0.25uV/C)、因此可以认为失调电压随温度的升高而增加吗?

2)增益误差如何随温度变化?  增益误差是随温度升高还是反之?  所提供的值为正值(10ppm/C)、因此可以认为增益误差随温度的升高而增大吗?

3)如何在计算中包括非线性误差? 是否可以添加增益误差?

4)在数据表中提供了内部可编程延迟误差 pgno:6。 "内部可编程延迟误差"术语在哪些方面会产生影响? 它是否会影响外部电容器设置的延迟时间? 如果是、计算相同值的公式是什么?

5) Vout 引脚是否可以悬空?

6)在数据表页号:5中、建议的差分电压为25mV。 在我们的设计中、差分输入电压大约为27mV。 是否会违反此建议?

谢谢

Viswa

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    您好、Viswa、

    1)     1)正漂移数不一定意味着失调电压随温度的升高而增加。 从这条典型曲线可以看出、Vos 实际上在下降。 它仅在125⁰C μ s 后开始峰值上升:

    2)     2)类似于 Vos。 以下是增益误差的典型曲线:

    3) 3)     是的、您可以将其添加到增益误差中。 如果  您有兴趣,下面是有关错误计算主题的视频。

    4)     4)延迟公式如下所示。 延迟误差可用于解决由于器件内部属性而导致的不确定性。 需要单独考虑延迟电容器的容差。

    5)     5)是的、Vout 可以保持浮动

    6) 6)     25mV 差分输入是由特定配置决定的最大值。 这是由于输出摆幅限制造成的。 理论上、器件输出将在25mV 后削波。 但除此之外,27mV 不会造成损坏。

    此致、Guang

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    您好、Guang、

    谢谢

    第4点和第6点有疑问

    1)第4点:Vth 和 Id 具有数据表中提供的最小、典型和最大变化。 4%表示这些误差、还是必须像那样单独包含误差

    延迟=((C*VTH)/ID + 2.5us)*(1+4%)

    2)第5点:

    在本例中、Vref=0V 且 Vs=4.9V。 因此、27mV 的输出将为2.7V、处于4.8V (Vs-0.1V)范围内。 因此、在我们的案例中、它也不会导致该问题。 对吗?

    谢谢

    Viswa

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    您好、Viswa、

    1)     第4点:应使用 Vth 和 ID 典型值、而不必单独包含这些错误。 延迟=((C*VTH)/ID + 2.5us)*(1±4%)

    2) 2)     第5点、您的理解是准确的。

    此致、Guang